[發(fā)明專利]一種電源模塊的維修方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210195564.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103487764A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳邊春 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海唐盛信息科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40 |
| 代理公司: | 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 趙繼明 |
| 地址: | 200070 上海市閘*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電源模塊 維修 方法 | ||
1.一種電源模塊的維修方法,所述的電源模塊包括MAX5051IC芯片,其特征在于,所述的方法包括如下步驟:
1)連接MAX5051IC芯片與示波器,觀測(cè)示波器的波形;
2)若觀測(cè)到的鋸齒波失真,則更換MAX5051IC芯片中的電容C1和電容C2;
3)若觀測(cè)到的波形出現(xiàn)低頻自激振蕩疊加的現(xiàn)象,則更換MAX5051IC芯片中的電容C9和電容C10。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源模塊的維修方法,其特征在于,所述的電容C1和電容C2均為貼片電容。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電源模塊的維修方法,其特征在于,所述的電容C9和電容C10均為去耦濾波電容。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海唐盛信息科技有限公司,未經(jīng)上海唐盛信息科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210195564.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





