[發(fā)明專利]一種導電滑環(huán)質量檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210195352.8
• 申請日: 2012-06-14
• 公開（公告）號: CN102692565A
• 公開（公告）日: 2012-09-26
• 發(fā)明（設計）人: 關宇東;提純利;滕藝丹;黃博聞;韓媞;陳家鑫;周葳;徐迪
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業(yè)大學
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

技術領域

本發(fā)明涉及一種導電滑環(huán)檢測方法。

背景技術

導電滑環(huán)是實現兩個存在相對旋轉的組件間信號、電流傳輸的精密輸電裝置，廣泛應用于各種測試、自控、慣導系統(tǒng)等設備以及其它場合。導電滑環(huán)工作時的動態(tài)電阻會對其工作的穩(wěn)定性和可靠性造成嚴重的影響，是反映導電滑環(huán)產品質量的重要指標。目前的導電滑環(huán)檢測方法只檢測其動態(tài)電阻的最大值、最小值和變化范圍，不能表現導電滑環(huán)總動態(tài)電阻具體變化情況和直接反映導電滑環(huán)制作工藝水平的電刷與滑道間接觸電阻變化情況。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是為了解決目前的導電滑環(huán)檢測方法不能表現導電滑環(huán)總動態(tài)電阻和電刷與滑道間接觸電阻變化的問題，提供一種導電滑環(huán)質量檢測方法。

一種導電滑環(huán)質量檢測方法，它包括具體步驟如下：

把待測導電滑環(huán)放置在導電滑環(huán)測試工裝，使導電滑環(huán)以轉速ω勻速運行，在導電滑環(huán)旋轉過程中測量獲得實測導電滑環(huán)的動態(tài)電阻為y(t)；

上述導電環(huán)的轉動周期為T，θ₀為測試開始時的初始相位；

根據導電環(huán)實際接入電路的總電阻為

Rr(t)=RT2·[-(t-nT2)2+(T2-2θ0ω)·(t-nT2)+Tθ0ω-θ022ω2]---(3)]]>

n為整數且n≥0；獲得待測導電環(huán)一周的總電阻R，

再根據公式(3)和導電滑環(huán)的理想動態(tài)電阻的數學模型

R(t)＝R_l(t)+R_c(t)+R_r(t)，

采用最小二乘法，獲得導電滑環(huán)的理想動態(tài)電阻R(t)為