[發(fā)明專利]一種用于唇形密封件的唇部表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210195042.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102706879A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃樂;索雙富;賈曉紅;郭飛;范清;王玉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 清華大學(xué);廣州機(jī)械科學(xué)研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84 |
| 代理公司: | 西安智大知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61215 | 代理人: | 賈玉健 |
| 地址: | 100084 北京市海淀區(qū)1*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 密封件 唇部 表面 質(zhì)量 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),尤其是一種用于唇形密封件的唇部表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
密封技術(shù)雖然不是主機(jī)中的領(lǐng)先技術(shù),但卻是關(guān)鍵性技術(shù)。密封零件的失效,不僅會(huì)增加維修成本,而且會(huì)降低主機(jī)可靠性和安全性。為保證密封系統(tǒng)的安全可靠,對(duì)密封件的關(guān)鍵部位進(jìn)行檢測(cè)是非常必要的。唇形密封件的唇口表面質(zhì)量對(duì)其預(yù)緊裝配時(shí)的接觸壓力及其分布有著重要影響,是決定唇形密封件密封性能好壞的關(guān)鍵因素,長(zhǎng)期以來(lái)對(duì)唇形密封件的唇口表面質(zhì)量檢測(cè)都是采用人工目測(cè)的方法,這樣不僅使工人勞動(dòng)強(qiáng)度大,生產(chǎn)效率低,而且檢測(cè)結(jié)果也不可靠。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展、數(shù)字圖像處理的技術(shù)不斷提高,運(yùn)用機(jī)器視覺技術(shù)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品表面質(zhì)量的自動(dòng)檢測(cè)理論上已變得可行,但現(xiàn)在這樣的檢測(cè)系統(tǒng)還未出現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種用于唇形密封件的唇部表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),基于機(jī)器視覺技術(shù),能適用于唇形密封件唇部表面質(zhì)量快速、自動(dòng)檢測(cè),具有操作簡(jiǎn)單、檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確等特點(diǎn)的,解決目前人工目測(cè)方法所造成的工人勞動(dòng)強(qiáng)度大,生產(chǎn)效率低,而且檢測(cè)結(jié)果也不可靠的問題。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種用于唇形密封件的唇部表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),包括工作臺(tái)1、工作臺(tái)1底部設(shè)置有電機(jī)2,電機(jī)2通過軸3與轉(zhuǎn)盤20相連,轉(zhuǎn)盤20上通過定位銷17固定有定位板18,轉(zhuǎn)盤20上通過定位板18固定有唇形密封件19,工作臺(tái)1的臺(tái)面一端設(shè)置有豎直方向的左滑軌11,左滑軌11上設(shè)置有相適配的左滑塊10,左滑軌11上還設(shè)置有上滑軌16和下滑軌4,上滑軌16上設(shè)置有上滑塊13,上滑塊13的左右兩端分別設(shè)置有上光源一12和上光源二15,上滑塊13底部通過轉(zhuǎn)塊14安裝有攝像機(jī)8,下滑軌4上滑動(dòng)設(shè)置有下滑塊5,下滑塊5頂部安裝有下光源6,工作臺(tái)1的左上角安裝有控制臺(tái)9,上光源一12、上光源二15、下光源6及電機(jī)2分別和控制臺(tái)9相連,工作臺(tái)1的左側(cè)安裝有監(jiān)控操作系統(tǒng)7,監(jiān)控操作系統(tǒng)7與攝像機(jī)8相連。
所述的轉(zhuǎn)盤20與定位板18由透明材料制成,使得下光源6能照射到唇形密封件19的唇口下部。
所述的定位板18為圓形薄板,其直徑大小與唇形密封件19的底部?jī)?nèi)徑相同,通過定位銷17固定在轉(zhuǎn)盤20上,且與轉(zhuǎn)盤20同心,并可以根據(jù)唇形密封件19的規(guī)格進(jìn)行更換。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有自動(dòng)檢測(cè),提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和生產(chǎn)效率,降低工人勞動(dòng)強(qiáng)度的優(yōu)點(diǎn)。
附圖說明
圖1是本發(fā)明檢測(cè)唇形密封件外唇表面質(zhì)量時(shí)的結(jié)構(gòu)立體示意圖。
圖2是本發(fā)明檢測(cè)唇形密封件內(nèi)唇表面質(zhì)量時(shí)的結(jié)構(gòu)立體示意圖。
具體實(shí)施方法
下面結(jié)合附圖與實(shí)施對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。
參照?qǐng)D1、圖2,一種用于唇形密封件的唇部表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng),包括工作臺(tái)1、工作臺(tái)1底部設(shè)置有電機(jī)2,電機(jī)2通過軸3與轉(zhuǎn)盤20相連,帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤20旋轉(zhuǎn);轉(zhuǎn)盤20上通過定位銷17固定有定位板18,轉(zhuǎn)盤20上通過定位板18固定有唇形密封件19,工作臺(tái)1的臺(tái)面一端設(shè)置有豎直方向的左滑軌11,左滑軌11上設(shè)置有相適配的左滑塊10,左滑軌11上還設(shè)置有上滑軌16和下滑軌4,上滑軌16上設(shè)置有上滑塊13,上滑塊13的左右兩端分別設(shè)置有上光源一12和上光源二15,上滑塊13底部通過轉(zhuǎn)塊14安裝有攝像機(jī)8,下滑軌4上滑動(dòng)設(shè)置有下滑塊5,下滑塊5頂部安裝有下光源6,工作臺(tái)1的左上角安裝有控制臺(tái)9,上光源一12、上光源二15、下光源6及電機(jī)2分別和控制臺(tái)9相連,工作臺(tái)1的左側(cè)安裝有監(jiān)控操作系統(tǒng)7,監(jiān)控操作系統(tǒng)7與攝像機(jī)8相連。
所述的轉(zhuǎn)盤20與定位板18由透明材料制成,使得下光源6能照射到唇形密封件19的唇口下部。
所述的定位板18為圓形薄板,其直徑大小與唇形密封件19的底部?jī)?nèi)徑相同,通過定位銷17固定在轉(zhuǎn)盤20上,且與轉(zhuǎn)盤20同心,并可以根據(jù)唇形密封件19的規(guī)格進(jìn)行更換。
所述的下滑塊5,左滑塊10,上滑塊13可以在下滑軌4、左滑軌11、上滑軌16上滑動(dòng),以調(diào)整攝像機(jī)8和上光源一12、上光源二15、下光源6到合適的位置。
所述的上光源一12用于檢測(cè)唇形密封件19外唇部時(shí)照射唇口上部,上光源二15用于檢測(cè)唇形密封件19內(nèi)唇部時(shí)照射唇口上部,下光源6則在檢測(cè)唇形密封件19內(nèi)外唇部時(shí)都需用于照射唇口下部。
所述的電機(jī)2通過軸3可帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤20旋轉(zhuǎn)。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





