[發明專利]用于采取優質試樣的探頭和其取樣方法

有效

• 申請號: 201210193222.0
• 申請日: 2012-06-12
• 公開（公告）號: CN102854035A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 羅炳奐;李萬業;黃善春;金孝相
• 申請（專利權）人: 又進電子騎士有限公司
• 主分類號: G01N1/10
• 分類號: G01N1/10
• 代理公司: 北京北翔知識產權代理有限公司 11285
• 代理人: 洪玉姬;楊勇

1.一種用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，在包括具備用于測定爐內部溫度等的探測器的探頭、用于安裝所述探頭并具備使吹掃用氣體經過外部支管和保持架之間的間隙能夠流入取樣口內部的保持架孔的保持架、用于支持所述保持架并在所述爐中進行上下移動的副槍的副槍系統中，

在所述探頭的內部支管具備支管孔，該支管孔使從外部支管和內部支管之間的間隙流入的吹掃用氣體能夠流入取樣口內部，

在所述取樣口的上室具備使流入的吹掃用氣體能夠通過的上室孔。

2.權利要求1所述的用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，在所述取樣口上室上端的外側面上接觸設置有金屬構件，在該金屬構件上比上室孔更緊湊地形成有使吹掃用氣體能夠通過的構件孔，所述上室孔和所述構件孔一部分相重疊從而實現通氣。

3.權利要求1所述的用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，在所述取樣口上室上端的外側面上接觸設置有金屬構件，該金屬構件上形成有使吹掃用氣體能夠通過并不與上室孔直接貫通的構件孔，在以相互交錯的方式設置的所述上室孔和構件孔之間能進行通氣。

4.權利要求1所述的用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，在取樣口和連接器之間形成一個以上的所述支管孔。

5.權利要求2或3所述的任一項用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，所述取樣口上室上端外側面形成有階梯部，以同時具有與所述金屬構件接觸的接觸部和非接觸部。

6.權利要求2所述的用于采取優質試樣的探頭，其特征在于，所述比上室孔更緊湊地形成有構件孔的金屬構件是網眼網或沖孔網。

7.一種使用用于采取優質試樣的探頭來采取優質試樣的方法，其特征在于，包括：

下降安裝于副槍上的探頭，在經過爐渣層到達鋼液測定位置為止，將副槍內部的吹掃用氣體吹入至探頭取樣口的步驟，

在所述測定位置進行取樣和測定期間，中斷吹入所述吹掃用氣體的步驟，和

從完成所述取樣和測定而副槍開始上升到副槍移到外部為止，再次吹入所述吹掃用氣體的步驟。

8.權利要求7所述的使用用于采取優質試樣的探頭來采取優質試樣的使用方法，其特征在于，所述探頭為權利要求1-6所述的任一項探頭。