[發明專利]一種適合于低能X射線測量的透射型監測電離室

有效

• 申請號: 201210187708.3
• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN103472475A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 魏可新;王紅玉;宋明哲;侯金兵;高飛
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種適合于低能X射線測量的透射型監測電離室，該電離室包括支撐結構（1）、絕緣套（2）、支撐環（3）、絕緣柱（4）、收集極（5）、高壓極（6），其特征在于，該電離室為三層電極結構，即兩個高壓極和一個收集極；電離室的中心置有固化靈敏體積的支撐環；支撐環（3）的材料為銅；收集極（5）和高壓極（6）的材質均為鋁化聚酯膜，其厚度為1~10μm。

2.根據權利要求1所述的一種適合于低能X射線測量的透射型監測電離室，其特征在于，所述的絕緣柱（4）為三絕緣立柱，材料為聚四氟乙烯。

3.根據權利要求1所述的一種適合于低能X射線測量的透射型監測電離室，其特征在于，所述的收集極（5）和高壓極（6）均固定在鋁制框架上。

4.根據權利要求1所述的一種適合于低能X射線測量的透射型監測電離室，其特征在于，所述的支撐結構（1）和絕緣套（2）通過螺紋連接。