[發明專利]輔助測試電路及具有該輔助測試電路的芯片及電路板

在審

• 申請號: 201210187157.0
• 申請日: 2012-06-08
• 公開（公告）號: CN103472347A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 舒禮盛;莊宗仁;翁世芳
• 申請（專利權）人: 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;H05K1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種輔助測試電路及具有該輔助測試電路的芯片及電路板。

背景技術

電路板上集成很多芯片，目前，檢測這些芯片各引腳所連接的功能電路是正常、開路還是短路時通常利用一個測試點和一個引腳電性相連，然后用測試設備測量該測試點的電壓值來判斷該引腳所連接的功能電路是正常、開路還是短路。然而，當芯片引腳的數目較多時，所需要的測試點也相應增多，測試時需要人工將測試設備與多個測試點依次連接，以依次對每個引腳的對應的功能電路的電連接狀態進行檢測，這種需要人工依次更換測試點的方式導致了檢測過程繁瑣且耗時。

發明內容

針對上述問題，有必要提供一種檢測過程較簡單的用于輔助測量芯片的多個引腳及對應的功能電路的電連接狀態的輔助測試電路。

有必要提供一種具有該輔助測試電路的芯片。

有必要提供一種具有該輔助測試電路的電路板。

一種輔助測試電路，用于輔助測量芯片的多個引腳及對應的功能電路的電連接狀態，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接于該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間的分壓元件，該測試電壓輸入端用于接收測試電壓，該引腳選擇單元連接于該多個引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用于根據外部控制信號控制該多個引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。

一種芯片，其包括多個引腳及多個分別對應該多個引腳連接的功能電路，該芯片還包括用于輔助檢測該多個引腳及對應的功能電路的電連接狀態的輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接于該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間的分壓元件，該測試電壓輸入端用于接收測試電壓，該引腳選擇單元連接于該多個引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用于根據外部控制信號控制該多個引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。

一種電路板，該電路板包括至少一芯片，該芯片包括多個引腳及多個分別對應該多個引腳連接的功能電路，該電路板還包括用于輔助檢測該多個引腳及對應的功能電路的電連接狀態的輔助測試電路，該輔助測試電路包括引腳選擇單元、分壓單元及測試結果輸出端，該分壓單元包括測試電壓輸入端、電壓輸出端及連接于該測試電壓輸入端與電壓輸出端之間的分壓元件，該測試電壓輸入端用于接收測試電壓，該引腳選擇單元連接于該多個引腳與該電壓輸出端之間，該引腳選擇單元用于根據一控制信號控制該多個引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，該電壓輸出端直接或間接連接至該測試結果輸出端。

與現有技術相比，本發明輔助測試電路及具有該輔助測試電路的芯片及電路板中引腳選擇單元根據外部控制信號依次控制該多個引腳其中之一與該電壓輸出端電連接，測試時只需要將該測試結果輸出端與測試設備相連，不需要人工更換連接，因而達到了檢測過程簡單的技術效果。另外，每個引腳不需要分別引出一個測試點，只需要將測試電壓輸入端及測試結果輸出端引出，因而在一定程度上減少了測試點的數目，節約測試點所占的面積。

附圖說明

圖1是本發明的電路板一較佳實施方式結構示意圖。

圖2是本發明的芯片一較佳實施方式結構示意圖。

主要元件符號說明