[發明專利]一種測量發光材料非線性光學性質的方法有效
| 申請號： | 201210186079.2 | 申請日： | 2012-06-07 |
| 公開（公告）號： | CN102879334A | 公開（公告）日： | 2013-01-16 |
| 發明（設計）人： | 董志偉;關國英;陳德應 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 150001 黑龍江省哈爾濱市*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 發光 材料 非線性 光學 性質 方法 | ||
【權利要求書】：
1.本專利涉及一種可用于測試發光材料多種非線性光學性能的改進實驗方法。
2.該方法的改進之處在于通過在探測器前引入光學濾波技術來消除發光材料熒光發射對測試的干擾。
3.通過在測試光路中平移臺后方安置光學分束片來實現同時測試材料非線性光學吸收特性和非線性光學折射特性。
4.根據3的要求，針對發光材料，光學分束片要鍍膜，鍍膜要求是對待測材料發光波長高衰減，以減小發光材料的熒光效應對測試結果的影響。
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