[發(fā)明專利]電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210185809.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102707712A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杜里;古兆兵;張樂飛;曾昕;方瓊娟;杜辰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣州山鋒測(cè)控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05B23/02 | 分類號(hào): | G05B23/02 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹 |
| 地址: | 510656 廣東省廣州市天河*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 裝備 故障診斷 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種電子裝備故障診斷方法,其特征在于,包括如下步驟:
讀取用戶輸入的故障樹;其中,所述故障樹包括測(cè)試點(diǎn)的相關(guān)信息;
將所述故障樹封裝成測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對(duì)象;
根據(jù)所述封裝的對(duì)象建立原位狀態(tài)下的測(cè)試模型;
根據(jù)所述測(cè)試模型從被測(cè)對(duì)象的測(cè)試點(diǎn)采集測(cè)試數(shù)據(jù);
利用所述測(cè)試模型診斷所述測(cè)試數(shù)據(jù)獲得故障位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,所述測(cè)試點(diǎn)的相關(guān)信息包括:電壓值、電流值、頻率值和/或電平值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,所述將所述故障樹封裝成測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對(duì)象的過程包括:
利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素;
將所述特征元素封裝成測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對(duì)象。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,所述利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素的過程包括:
從故障樹的行為節(jié)點(diǎn)中提取行為主體與行為,標(biāo)定各個(gè)測(cè)試點(diǎn);
檢索判斷節(jié)點(diǎn)的約束值和不同結(jié)果狀態(tài)下,引導(dǎo)至其它行為或故障定位的連接線,獲得標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與邏輯關(guān)聯(lián);
從故障樹的故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)提取故障信息,并獲取故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)之前的判斷節(jié)點(diǎn)的行為主體,確定故障樹的故障規(guī)則。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,所述根據(jù)所述封裝的對(duì)象建立原位狀態(tài)下的測(cè)試模型的過程包括:
以測(cè)試點(diǎn)為主體建立測(cè)試模型;
選取測(cè)試模型的入口測(cè)試點(diǎn),將所述入口測(cè)試點(diǎn)設(shè)為模型入口;
根據(jù)所述封裝的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)內(nèi)部對(duì)象,建立測(cè)試模型中各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的內(nèi)部邏輯屬性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,根據(jù)所述測(cè)試模型從被測(cè)對(duì)象的測(cè)試點(diǎn)采集測(cè)試數(shù)據(jù)的過程包括:
以所述入口測(cè)試點(diǎn)為初始測(cè)試位置,并根據(jù)所述內(nèi)部邏輯查找出下一層診斷測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)位置,對(duì)所述位置對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,獲取所有測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子裝備故障診斷方法,其特征在于,利用所述測(cè)試模型診斷所述測(cè)試數(shù)據(jù)獲得故障位置的過程包括:
將所采集的測(cè)試數(shù)據(jù)與所述測(cè)試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,獲取不合格的測(cè)試數(shù)據(jù);
將所述不合格的測(cè)試數(shù)據(jù)與所述測(cè)試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置。
8.一種電子裝備故障診斷系統(tǒng),其特征在于,包括:
信息錄入單元,用于讀取用戶輸入的故障樹;其中,所述故障樹包括測(cè)試點(diǎn)的相關(guān)信息;
對(duì)象封裝單元,用于將所述故障樹封裝成測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對(duì)象;
模型建立單元,用于根據(jù)所述封裝的對(duì)象建立原位狀態(tài)下的測(cè)試模型;
數(shù)據(jù)采集單元,用于根據(jù)所述測(cè)試模型從被測(cè)對(duì)象的測(cè)試點(diǎn)采集測(cè)試數(shù)據(jù);
故障診斷單元,用于利用所述測(cè)試模型診斷所述測(cè)試數(shù)據(jù)獲得故障位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子裝備故障診斷系統(tǒng),其特征在于,所述對(duì)象封裝單元包括:
預(yù)處理模塊,用于利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素;
封裝模塊,用于將所述特征元素封裝成測(cè)試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對(duì)象。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子裝備故障診斷系統(tǒng),其特征在于,所述故障診斷單元包括:
數(shù)據(jù)分析模塊,用于將所采集的測(cè)試數(shù)據(jù)與所述測(cè)試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,獲取不合格的測(cè)試數(shù)據(jù);
故障定位模塊,用于將所述不合格的測(cè)試數(shù)據(jù)與所述測(cè)試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置。
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