[發明專利]一種測物位的RFID系統及其測物位的方法

無效

• 申請號: 201210183732.X
• 申請日: 2012-06-01
• 公開（公告）號: CN103455778A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 劉丙午;霍靈瑜;王玉泉
• 申請（專利權）人: 北京物資學院
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00;G06K19/077;G01F23/22;G01F23/26;H01Q1/22;H01Q5/01
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1.一種測物位的RFID系統，其特征在于，所述測物位的RFID系統包括：RFID閱讀器、第一RFID標簽和第二RFID標簽，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽具有相同的芯片和天線；所述第一RFID標簽當物位變化時，所述第一RFID標簽的天線的第一共振頻率和信號強度保持不變，此時所述第一RFID標簽工作在第一共振頻率下；所述第二RFID標簽為帶物位敏感裝置的RFID標簽，所述第二RFID標簽的芯片上有兩個引腳；所述物位敏感裝置與這兩個引腳相連，并與所述第二RFID標簽的天線形成并聯結構，外界物位的變化會引起物位敏感裝置本身電阻的變化，當物位變化時，所述第二RFID標簽的天線的特征頻率和信號強度至少會有一個發生變化，此時所述第二RFID標簽工作在第二共振頻率下；所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽分別接收所述RFID閱讀器發送的指令并反饋信號，所述RFID閱讀器通過比較來自所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽不同頻率的信號強度之間的差異來檢測物位的改變。

2.如權利要求1所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽的天線均為單極子天線：所述的物位敏感裝置與所述第二RFID標簽的天線形成并聯結構。

3.如權利要求1所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽的天線均為雙偶極天線：所述的物位敏感裝置與所述第二RFID標簽的一根天線形成并聯結構，或者與兩根天線同時形成并聯結構。

4.如權利要求1所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述物位敏感裝置為電阻型物位敏感裝置，所述物位敏感裝置包括：導電式水位測量裝置、電容式料位測量裝置、以及其他電阻型物位檢測裝置。

5.一種測物位的RFID系統，其特征在于，所述測物位的RFID系統包括：RFID閱讀器、第一RFID標簽和第二RFID標簽，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽具有相同的芯片和天線；所述第一RFID標簽當物位變化時，所述第一RFID標簽的天線的第一共振頻率和信號強度保持不變，此時所述第一RFID標簽工作在第一共振頻率下；所述第二RFID標簽為帶物位敏感裝置的RFID標簽，所述第二RFID標簽的芯片上有一個引腳；所述物位敏感裝置的一端與這個引腳相連，另一端連接到所述RFID標簽的天線上，并與天線形成并聯結構，外界物位的變化會引起物位敏感裝置本身電阻的變化，當物位變化時，所述第二RFID標簽的天線的特征頻率和信號強度至少會有一個發生變化，此時所述第二RFID標簽工作在第二共振頻率下；所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽分別接收所述RFID閱讀器發送的指令并反饋信號，所述RFID閱讀器通過比較來自所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽不同頻率的信號強度之間的差異來檢測物位的改變。

6.如權利要求5所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽的天線均為單極子天線：所述的物位敏感裝置與所述第二RFID標簽的天線形成并聯結構。

7.如權利要求5所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述第一RFID標簽和所述第二RFID標簽的天線均為雙偶極天線：所述的物位敏感裝置與所述第二RFID標簽的一根天線形成并聯結構，或者與兩根天線同時形成并聯結構。

8.如權利要求5所述測物位的RFID系統，其特征在于，所述物位敏感裝置為電阻型物位敏感裝置，所述電阻型物位敏感裝置包括：導電式水位測量裝置、電容式料位測量裝置、以及其他電阻型物位檢測裝置。