[發(fā)明專利]刀具自動檢測設備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210182035.2 | 申請日: | 2012-06-05 |
| 公開(公告)號: | CN102901443A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 鄭青煥 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳深藍精機有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 刀具 自動檢測 設備 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及檢測設備的技術(shù)領域,尤其涉及刀具自動檢測設備。
背景技術(shù)
銑刀是用于銑削加工工件的旋轉(zhuǎn)刀具,其具有一個或多個刀齒。銑刀主要運用在銑床上,在工件上加工平面、臺階以及溝槽等,或用于給工件成形表面或切斷工件等,工作時,銑刀上的各刀齒依次間歇地切去工件的余量。銑刀分為圓柱形銑刀、面銑刀、立銑刀、三面刃銑刀、角度銑刀、鋸片銑刀、T形銑刀等多種類型,各種銑刀所適用加工的工件均互不相同,這樣,其上的刀刃角度以及幾何形狀亦隨之不同,因此,在大量制造銑刀的過程中,必須逐一檢測銑刀是否研磨至預設的刀刃角度及幾何形狀,同時,也必須逐一檢測銑刀的刀刃寬度、韌帶寬度、刀刃崩角、刀刃缺口、銑刀直徑、到底倒角及過中心長度等項目,以確保銑刀的品質(zhì)。
現(xiàn)有技術(shù)中,均利用垂直設置的影像檢測機(CCD)對制造好的銑刀進行檢測,檢測過程中,采用人工操作,逐一取放銑刀至影像檢測機處進行檢測,以判斷銑刀是否合乎品質(zhì)標準,該人工操作的檢測方式已無法適應目前銑刀的生產(chǎn)速度,大大降低了銑刀的檢測效率;另外,在檢測過程中,需要對銑刀進行多方位的檢測,現(xiàn)有技術(shù)中的操作方法也是采用人工操作的方式使得銑刀在影像檢測機處展現(xiàn)多個方位,這樣,不僅降低檢測效率,且可能出現(xiàn)方位位置不準,以致銑刀檢測不準的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供刀具自動檢測設備,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的銑刀采用人工操作進行檢測以致檢測效率較低以及檢測不準的問題。
本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的,刀具自動檢測設備,包括控制中心,還包括基座、置于所述基座上且可沿所述基座水平方向移動并用于放置待檢測刀具及檢測完畢的刀具的料盤、置于所述基座上用于夾住待檢測刀具且可使所述待檢測刀具以縱向方向為轉(zhuǎn)動中心轉(zhuǎn)動的夾頭座、可沿垂直方向及縱向方向移動且可對所述夾頭座中的待檢測刀具進行檢測的檢測機構(gòu)以及可抓取所述料盤中待檢測刀具置于所述夾頭座中且可將所述夾頭座中已檢測完畢的刀具置于所述料盤中的抓取機構(gòu),所述抓取機構(gòu)置于所述基座上方,所述夾頭座置于所述檢測機構(gòu)與所述料盤之間,所述控制中心控制所述料盤、夾頭座、抓取機構(gòu)以及檢測機構(gòu)的運作。
進一步地,所述抓取機構(gòu)包括置于所述基座上的機架,所述機架上具有沿所述基座垂直方向布置的橫桿,所述橫桿上設有沿所述橫桿布置方向延伸的第二導軌,所述第二導軌上設有由所述控制中心驅(qū)動沿所述第二導軌移動的移動組件,所述移動組件具有由所述控制中心驅(qū)動可沿縱向方向移動且可抓取所述料盤中的待檢測刀具使其置于所述夾頭座中或抓取所述夾頭座中檢測完畢的刀具使其置于所述料盤中的夾具。
進一步地,所述抓取組件包括活動置于所述第二導軌且由所述控制中心驅(qū)動可沿所述第二導軌移動的第一動力件、連接于所述第一動力件且可隨所述第一動力件移動的氣缸以及由所述氣缸驅(qū)動的所述夾具。
進一步地,所述檢測機構(gòu)包括沿縱向方向布置的第三導軌、活動置于所述第三導軌上且由所述控制中心驅(qū)動沿所述第三導軌移動的滑動板以及活動連接于所述滑動板且由所述控制中心驅(qū)動相對于所述滑動板沿垂直方向移動并用于檢測置于所述夾頭座上待檢測刀具的影像檢測機。
進一步地,還包括沿縱向方向布置的絲桿、由所述控制中心驅(qū)動使得所述絲桿轉(zhuǎn)動的第二動力件以及穿設于所述絲桿中且可沿所述絲桿移動的滑塊,所述滑動板連接于所述滑塊上。
進一步地,所述刀具自動檢測設備還包括可隨所述檢測機構(gòu)移動的照明機構(gòu),所述照明機構(gòu)中具有可擺動且用于照明置于所述夾頭座中待檢測刀具的光源件。
進一步地,所述照明機構(gòu)還包括連接于所述影像檢測機且隨所述影像檢測機移動的刻度調(diào)節(jié)盤以及置于所述刻度調(diào)節(jié)盤一側(cè)且可相對于所述刻度調(diào)節(jié)盤一側(cè)擺動的所述光源件。
進一步地,所述刻度調(diào)節(jié)器一側(cè)設有嚙合齒,所述光源件上設有可與所述嚙合齒嚙合配合且可沿所述嚙合齒移動的齒輪,所述齒輪連接于由所述控制中心驅(qū)動以使所述齒輪轉(zhuǎn)動的第三動力件。
進一步地,所述刻度調(diào)節(jié)盤的一側(cè)設有角度標記。
進一步地,所述料盤包括用于容置待檢測刀具的進料盤、容置檢測合格的刀具的合格盤以及容置檢測不合格的刀具的不合格盤,所述基座上設有沿水平方向布置的第一導軌,所述進料盤、合格盤以及不合格盤并列活動置于所述第一導軌上。
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