[發明專利]一種鏡片瑕疵快速檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201210180997.4
• 申請日: 2012-06-04
• 公開（公告）號: CN102735695A
• 公開（公告）日: 2012-10-17
• 發明（設計）人: 岳東;陸凱;孫志剛;許祖鑫
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01N21/896
• 分類號: G01N21/896
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 朱仁玲

1.一種鏡片瑕疵快速檢測方法，其特征在于，包括下述步驟：

S1：將待檢測鏡片表面均分為n²個部分，分別獲取每個部分的圖像，在設定的時間內獲取n²張圖像，所述設定的時間用于控制獲取圖像的速率；n為大于等于2的自然數；

S2：將所述n²張圖像分別進行中值濾波、黑帽變換以及二值化處理后分割出缺陷圖像；

S3：對所述缺陷圖像進行開運算濾除非瑕疵干擾部分；

S4：對所述濾除非瑕疵干擾后的缺陷圖像進行繪制輪廓處理，若有輪廓，則所述待檢測鏡片表面有瑕疵；若無輪廓，則所述待檢測鏡片表面無瑕疵。

2.如權利要求1所述的鏡片瑕疵快速檢測方法，其特征在于，在步驟S1中，采用CCD面陣相機獲取n²張圖像。

3.如權利要求1所述的鏡片瑕疵快速檢測方法，其特征在于，在步驟S1中，獲取n²張圖像時采用S型移動。

4.一種鏡片瑕疵快速檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像獲取模塊，將待檢測鏡片表面均分為n²個部分，分別獲取每個部分的圖像，在設定的時間內獲取n²張圖像，所述設定的時間用于控制獲取圖像的速率；

圖像分割單元，將所述n²張圖像分別進行中值濾波、黑帽變換以及二值化處理后分割出缺陷圖像；

濾波單元，對所述缺陷圖像進行開運算濾除非瑕疵干擾部分；

瑕疵檢測單元，對所述濾除非瑕疵干擾后的缺陷圖像進行繪制輪廓處理，若有輪廓，則所述待檢測鏡片表面有瑕疵；若無輪廓，則所述待檢測鏡片表面無瑕疵。

5.如權利要求4所述的檢測裝置，其特征在于，還包括：

鏡片夾取模塊和控制模塊；控制模塊控制鏡片夾取模塊夾取待檢測鏡片并將所述待檢測鏡片移動到圖像獲取模塊的正下方；控制所述待檢測鏡片每移動一步的同時所述圖像獲取模塊獲取一張圖像，在設定的時間內所述待檢測鏡片需移動n²步的同時所述圖像獲取模塊獲取n²張圖像。

6.如權利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述鏡片夾取模塊為擺動氣爪，所述擺動氣爪前端夾取裝置的兩個夾緊模塊可旋轉180度，使所述待檢測鏡片正反轉。

7.如權利要求5所述的檢測裝置，其特征在于，所述圖像獲取模塊包括：

CCD面陣相機，以及

用于給所述待檢測鏡片提供圖像清晰成像所需的同軸平行光源。

8.如權利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述圖像獲取模塊中CCD面陣相機固定在龍門架的可調支架上。