[發明專利]一種化金工藝的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法無效
| 申請號： | 201210180517.4 | 申請日： | 2012-06-04 |
| 公開（公告）號： | CN102706802A | 公開（公告）日： | 2012-10-03 |
| 發明（設計）人： | 鄭國光;黃志東;蘇維輝;楊曉新;謝偉明;謝少英;孟凡義;劉明瑋;曾燕豐;李德宏 | 申請（專利權）人： | 汕頭超聲印制板公司 |
| 主分類號： | G01N21/00 | 分類號： | G01N21/00;G01N1/32 |
| 代理公司： | 汕頭市潮睿專利事務有限公司 44230 | 代理人： | 林天普;丁德軒 |
| 地址： | 515000*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 金工 鍍層 腐蝕 快速 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種化金工藝的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法，其特征在于包括如下步驟：
（1）、從PCB板上截取樣品，該樣品具有包含PCB板、銅鍍層、鎳鍍層和金鍍層的橫截面；
（2）、將樣品固定，露出樣品的橫截面；
（3）、采用砂紙對樣品的橫截面進行打磨，磨去處于橫截面上的毛刺狀凸起，直至肉眼觀察不到磨痕；
（4）、采用拋光布和拋光膏對樣品的橫截面進行拋光，以進一步消除橫截面上的細小磨痕；
（5）、用水對該樣品進行清洗并擦干；
（6）、采用光學放大裝置對樣品的橫截面進行觀察，如果在鎳鍍層處出現條狀痕跡，則判斷鎳鍍層出現腐蝕。
2.如權利要求1所述的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法，其特征是：所述步驟（4）中，采用砂紙對樣品的橫截面進行打磨的過程中，邊打磨邊加水。
3.如權利要求1所述的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法，其特征是：所述步驟（2）中，將樣品固定是將樣品鑲嵌于亞克力膠中。
4.如權利要求1所述的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法，其特征是：所述步驟（6）中的光學放大裝置為800～1600倍的光學顯微鏡。
5.如權利要求4所述的鎳鍍層腐蝕快速檢測方法，其特征是：所述步驟（6）中的光學放大裝置為1000倍的光學顯微鏡。
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