[發明專利]磁檢測裝置無效
| 申請號: | 201210180104.6 | 申請日: | 2012-06-01 |
| 公開(公告)號: | CN102809385A | 公開(公告)日: | 2012-12-05 |
| 發明(設計)人: | 水谷彰利;河野尚明;本多仁美;瀧口智之 | 申請(專利權)人: | 株式會社電裝 |
| 主分類號: | G01D5/14 | 分類號: | G01D5/14;G01K7/22 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 張偉;王英 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 裝置 | ||
1.一種磁檢測裝置(1),包括:
IC器件(2),其包括IC封裝(5)和從所述IC封裝(5)延伸出的多條引線(6A至6C),所述IC封裝包括內置的磁電換能器;
殼體(3),其限定所述IC器件(2)的收納空間(9);以及
樹脂模制部(4),其被布置在所述殼體(3)的外表面(17)的第一部分上,所述殼體(3)的所述外表面(17)的第一部分與所述殼體(3)的內壁的第一部分對應,
其中,所述收納空間(9)由所述殼體(3)的所述內壁的第二部分限定,所述殼體(3)的所述內壁的第二部分與所述殼體(3)的所述外表面(17)的第二部分對應,
其中,所述殼體(3)的所述內壁的第二部分的預定部分被定義為接觸區域(L0至L6),所述接觸區域(L0至L6)與所述IC器件(2)的外表面的預定部分相接觸,
其中,所述樹脂模制部(4)被布置在所述殼體(3)的所述外表面(17)的第二部分的預定部分以外的部分,所述殼體(3)的所述外表面(17)的第二部分的預定部分與所述接觸區域(L0至L6)對應,并且
其中,通過所述樹脂模制部(4)的位置以及與所述IC封裝(5)接觸的所述接觸區域(L0至L6)的位置來確定所述磁電換能器的位置。
2.根據權利要求1所述的磁檢測裝置(1),還包括:
法蘭形狀的突出部(16),其從所述殼體(3)的所述外表面(17)的第一部分的預定部分沿徑向向外的方向延伸,所述法蘭形狀的突出部(16)具有環狀并且圍繞所述收納空間(9),
其中,所述法蘭形狀的突出部(16)與所述樹脂模制部(4)成一整體。
3.根據權利要求1所述的磁檢測裝置(1),其中
所述IC封裝(5)被所述接觸區域(L0至L6)夾著和支撐。
4.根據權利要求1至3中的任一項所述的磁檢測裝置(1),還包括:
多個延伸端子(13A至13C),其在所述收納空間(9)中分別與所述多條引線(6A至6C)電氣耦合,
其中,所述收納空間(9)被填充有灌封材料。
5.根據權利要求4所述的磁檢測裝置(1),還包括:
電容器(14),其被耦合在兩個相鄰的延伸端子(13A至13C)之間,
其中,所述電容器(14)被所述收納空間(9)中的所述灌封材料密封。
6.根據權利要求5所述的磁檢測裝置(1),還包括:
多個延伸端子(13A至13C),其在所述收納空間(9)中分別與所述多條引線(6A至6C)電氣耦合,
其中,所述殼體(3)限定開口部(10),以便在所述收納空間(9)中容納所述IC器件(2),
其中,所述開口部(10)被蓋子(22)覆蓋,所述蓋子(22)包括多個通孔(23),
其中,每一個延伸端子(13A至13C)經由對應的所述通孔(23)穿透所述蓋子(22),
其中,所述多個延伸端子(13A至13C)中的一個包括限位器(24),以將所述多個延伸端子(13A至13C)與所述蓋子(22)接合,并且
其中,所述蓋子(22)通過熱堵縫與所述殼體(3)成一整體,以便密封所述開口部(10)。
7.根據權利要求1至3中的任一項所述的磁檢測裝置(1),還包括:
多個延伸端子(13A至13C),其在所述收納空間(9)中分別與所述多條引線(6A至6C)電氣耦合;以及
一個或多個電容器(14),其被耦合在兩個相鄰的延伸端子(13A至13C)之間,
其中,所述IC器件(2)中的除了所述IC封裝(5)之外的部分、所述多個延伸端子(13A至13C)以及所述一個或多個電容器(14)提供了子總成(27)的插入部件(26),所述子總成(27)被注射成型,并且
其中,在所述子總成(27)被收納在所述收納空間(9)中的條件下布置所述樹脂模制部(4)。
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