[發(fā)明專利]一種非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關及其檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210178249.2
• 申請日: 2012-05-31
• 公開（公告）號: CN102788626A
• 公開（公告）日: 2012-11-21
• 發(fā)明（設計）人: 邵小歐
• 申請（專利權）人: 邵小歐
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司 32218
• 代理人: 徐冬濤

1.一種非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關，其特征在于所述開關包括定向電磁波發(fā)射單元（1）和磁波接收單元（2），所述磁波發(fā)射單元（1）和定向電磁波接收單元（2）位于料倉所需測量高度的同一水平高度，所述電磁波發(fā)射器（1）和電磁波接收器（2）分別安裝于料倉外部的兩側的料倉壁（3）上，定向電磁波發(fā)射單元（1）和定向電磁波接收單元（2）之間構建一電磁波通道（4）。

2.根據(jù)權利要求1所述的非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關，其特征在于所述料倉壁（3）為金屬外殼或金屬外殼非金屬內襯。

3.根據(jù)權利要求1所述的非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關，其特征在于所述定向電磁波發(fā)射單元（1）和定向電磁波接收單元（2）使用的電磁波頻率0.1-5GHZ。

4.根據(jù)權利要求1所述的非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關，其特征在于所述定向電磁波發(fā)射單元（1）包括電磁波發(fā)射電路（1-1）、與電磁波發(fā)射電路（1-1）連接的天線（1-2）、電源接口（1-3）和調試串口（1-4）。

5.根據(jù)權利要求1所述的非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關，其特征在于所述定向電磁波接收單元（2）包括電磁波接收電路（2-1）、分別與電磁波接收電路（2-1）連接的天線（2-2）和中央處理器（2-3），以及與中央處理器（2-3）連接的電源接口（2-4）、調試串口（2-5）和繼電器（2-6）。

6.一種利用權利要求1至5任意之一所述的非接觸式檢測料倉料位的電磁波開關進行非接觸式檢測料倉料位的方法，其特征是在所述方法中將磁波發(fā)射單元（1）和定向電磁波接收單元（2）位于料倉所需測量高度的同一水平高度，所述電磁波發(fā)射器（1）和電磁波接收器（2）分別安裝于料倉外部的兩側的料倉壁（3）上，當料位沒有到達所需測量高度的料位時，接收器能夠收到來自發(fā)射器的一個較強的電磁波信號；當料位達到料倉設定的位置時，電磁波接收器收到一個較弱的電磁波信號或無法收到電磁波信號。

7.根據(jù)權利要求6所述的非接觸式檢測料倉料位的方法，其特征在于所述定向電磁波發(fā)射單元（1）和定向電磁波接收單元（2）使用的電磁波頻率0.1-5GHZ。