[發明專利]快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法

有效

• 申請號: 201210177268.3
• 申請日: 2012-05-31
• 公開（公告）號: CN103454787A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 周明杰;王永清
• 申請（專利權）人: 海洋王（東莞）照明科技有限公司;海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：包括以下測試步驟：

選擇數臺畫面品質合格的液晶顯示屏作為測試樣機；

將所述測試樣機置于恒溫恒濕箱，各測試樣機之間間隔放置，并將各測試樣機通電，使各測試樣機均處于工作狀態；

設置不同的環境參數，對所述測試樣機進行多次且連續的沖擊測試；

將上述經連續沖擊測試的測試樣機取出，在常溫下靜置后再進行畫面品質檢測，并根據檢測結果記錄測試樣機中出現的液晶泄露異常；

對記錄異常的測試樣機進行設計更改，更改后重復上述的測試步驟直至無異常出現。

2.如權利要求1所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述測試樣機在進行畫面品質檢測時的環境照度為200±10Lux。

3.如權利要求1所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述測試樣機之間的間隔要大于20cm。

4.如權利要求1所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：各次所述的沖擊測試均為在兩組環境參數下進行多次反復測試，所述環境參數包括溫度、相對濕度及時間。

5.如權利要求4所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述反復測試至少為三次。

6.如權利要求4或5所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述沖擊測試為四次，其中第一次沖擊測試時的兩組環境參數中的溫度、相對濕度及時間范圍值分別為：45℃～50℃、90%RH～95%RH、2h～3h；15℃～20℃、90%RH～95%RH、2h～3h。

7.如權利要求6所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第二次沖擊測試時的兩組環境參數中的溫度、相對濕度及時間范圍值分別為：40℃～45℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-5℃～0℃、90%RH～95%RH、2h～3h。

8.如權利要求7所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第三次沖擊測試時的兩組環境參數中的溫度、相對濕度及時間范圍值分別為：50℃～55℃、80%RH～85%RH、2h～3h；-10℃～5℃、80%RH～85%RH、2h～3h。

9.如權利要求8所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第四次沖擊測試時的兩組環境參數中的溫度、相對濕度及時間范圍值分別為：50℃～55℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-10℃～5℃、20%RH～25%RH、2h～3h。

10.如權利要求1所述的快速檢測液晶顯示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：經連續沖擊測試后的測試樣機在進行畫面品質檢測前的常溫靜置時間至少為2h。