[發明專利]校正量子計數探測器中計數率漂移的方法和X射線系統

有效

• 申請號: 201210176072.2
• 申請日: 2012-05-31
• 公開（公告）號: CN102809756A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: S.卡普勒
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于在具有多個平面布置的量子計數探測器元件（D_n，m）的電離輻射探測器中校正計數率漂移的方法，其中每個探測器元件（D_n，m）具有帶有明顯不同的能量門限（S1，S2，S3）的至少兩個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的組合，所述能量門限被組合地分析以用于確定入射輻射劑量，其特征在于，基于前面確定的計數率彼此的函數依賴關系并且在每個探測器元件使用至少一個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）作為參考的情況下對具有不同能量門限的各個其它計數器的計數率進行校正。

2.根據上述權利要求1所述的方法，其特征在于，在透射不同厚度的相同的或關于其吸收特征等效的材料的情況下測量每個探測器元件（D_n，m）的各個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的計數率的函數依賴關系，該材料在之后的X射線檢查中至少近似在待檢查的測量對象（7）中還存在。

3.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，為了確定探測器（D）的探測器元件（D_n，m）的計數率漂移的函數依賴關系，確定至少兩個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）之間的線性回歸系數，并且由此校正至少一個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的計數率。

4.根據上述權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，為了確定探測器的探測器元件（D_n，m）的計數率漂移的函數依賴關系，確定至少兩個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）之間的多項式回歸系數，并且由此校正至少一個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的計數率。

5.根據上述權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所測量的計數率（I_i）和/或其對數等效L_i在其使用之前進行標準化。

6.根據上述權利要求5所述的方法，其特征在于，平場校正被用于標準化。

7.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法用于X射線探測器。

8.根據上述權利要求1至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法用于CT探測器。

9.一種X射線系統，特別是CT系統（1），具有帶有量子計數探測器元件（D_n，m）的探測器（3，5），其中具有明顯不同的能量門限（S1，S2，S3）的至少兩個計數器（Z_S1，Z_S2，Z_S3）的組合配備給每個探測器元件（D_n，m），以及具有程序存儲器的控制和計算單元（10），在該程序存儲器中存儲了計算機程序（Prg₁-Prg_n），所述計算機程序在運行中執行根據上述權利要求中任一項所述的方法。

10.一種用于量子計數探測器元件（D_n,m）的電路布置，其這樣運行，即在運行中執行根據權利要求1至8中任一項所述的方法。