[發明專利]液晶顯示面板的檢測方法

無效

• 申請號: 201210174052.1
• 申請日: 2012-05-30
• 公開（公告）號: CN102681227A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 黃皓;劉純;潘昶宏
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦;丁建春

技術領域

本發明涉及液晶顯示面板檢測技術，特別是涉及一種液晶顯示面板的檢測方法，其可以在液晶顯示面板切除短路棒(shorting?bar)后，還原點燈檢測。

背景技術

隨著科技的高速發展，平面顯示裝置特別是液晶顯示裝置(Liquid?Crystal?Display，LCD)因其具有高畫質、體積小、重量輕及應用范圍廣等優點，而被廣泛地應用在手機、筆記本電腦、桌上型顯示裝置、電視等各類消費性電子產品中，并已經逐漸地取代傳統的陰極射線管顯示裝置(Cathode?Ray?Tube,CRT)而成為顯示裝置的主流。

液晶顯示面板是液晶顯示裝置中最重要的元件，其通常包括薄膜晶體管(Thin?Film?Transistor,TFT)基板、彩色濾光片(Color?Filter,CF)基板以及夾設在兩基板之間的液晶層。其中，薄膜晶體管基板上設置有多條掃描線、多條數據線、多個像素電極以及多個成矩陣排列的薄膜晶體管等等各類電子元器件。為了保證薄膜晶體管基板上各類電子元器件的電連接關系正確，業界通常在制程薄膜晶體管基板時，會一并在薄膜晶體管基板的邊緣處設置短路棒(shoring?bar)，以利用短路棒而在模組化之前進行cell段的點燈檢測，然后檢測完畢后切除液晶顯示面板中的薄膜晶體管基板上的短路棒，再將液晶顯示面板送去進行模組化(Module段)。

但是，如果發現模組化后的液晶顯示面板存在特殊缺陷時，由于此時薄膜晶體管基板上的短路棒已經被切除掉了，則無法再利用短路棒進行cell點燈檢測，因此檢測人員無法判斷模組化后的液晶顯示面板所存在的特殊缺陷是由于點燈檢測人員漏了進行點燈檢測，還是點燈檢測無法檢出的缺陷。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種液晶顯示面板的檢測方法，其能夠在切除短路棒后，還原點燈檢測。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種液晶顯示面板的檢測方法，其包括：提供一個全接觸點燈治具，其中所述全接觸點燈治具包括多個探針；以及利用所述全接觸點燈治具上的所述探針接觸所述液晶顯示面板上的面板端子，以執行點燈檢測。

其中，所述全接觸點燈治具進一步電性連接至印刷電路板，以利用所述印刷電路板所提供的點燈信號而執行所述點燈檢測。

其中，所述全接觸點燈治具通過COF封裝基板而電性連接至印刷電路板，以執行所述點燈檢測。

其中，所述液晶顯示面板通過所述連接端子而電性連接所述液晶顯示面板的驅動IC基板。

其中，所述驅動IC基板包括位于X軸的源極驅動IC和位于Y軸的柵極驅動IC。

本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明液晶顯示面板的檢測方法可以對模組化后的液晶顯示面板(即切除了短路棒后的液晶顯示面板)，利用全接觸點燈治具來還原原本由短路棒所執行的點燈檢測，從而有助于判斷模組化后的液晶顯示面板所存在的缺陷是由于點燈檢測人員漏放了點燈檢測，還是點燈檢測無法檢出的缺陷，并可以調整點燈檢測的參數趨向至模組化檢測參數，從而增強點燈檢測的能力。

附圖說明

圖1是本發明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的流程示意圖；

圖2是為本發明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的具體示意圖。

具體實施方式

圖1為本發明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的流程示意圖。請參閱圖1，本發明實施例所示的液晶顯示面板的檢測方法包括：

提供一個全接觸點燈治具，其中全接觸治具包括多個探針；以及

利用全接觸點燈治具上的探針接觸液晶顯示面板，以還原點燈檢測。

具體地，圖2為本發明實施例的液晶顯示面板的檢測方法的具體示意圖。如圖2所示，液晶顯示面板100包括顯示區域110以及設置在邊緣區域內的驅動IC基板120和130。其中，顯示區域110內包括有多條掃描線(圖未示)和多條數據線(圖未示)，這些掃描線與這些數據線相互交叉以將液晶顯示面板100的顯示區域110劃分成多個像素區域，而每一個像素區域分別包括一個作為開關元件的薄膜晶體管(圖未示)和一個像素電極(圖未示)。顯示區域110內的這些電子器件可通過連接端子140而電性連接處于邊緣區域的驅動IC基板120和130，以使液晶顯示面板100進行正常的工作。