[發(fā)明專利]電磁暫態(tài)仿真結(jié)果的準(zhǔn)確度計(jì)算方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210172795.5
• 申請(qǐng)日: 2012-05-29
• 公開（公告）號(hào): CN102760181A
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳來軍;陳穎;梅生偉;許寅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類號(hào): G06F17/50
• 分類號(hào): G06F17/50
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種電磁暫態(tài)仿真結(jié)果的準(zhǔn)確度計(jì)算方法，其特征在于，所述方法包括：

設(shè)置至少兩個(gè)不同的待測(cè)仿真步長(zhǎng)分別對(duì)當(dāng)前電力系統(tǒng)進(jìn)行電磁暫態(tài)仿真，獲得對(duì)應(yīng)的待測(cè)仿真結(jié)果；

將所述待測(cè)仿真步長(zhǎng)的公約數(shù)作為基準(zhǔn)仿真步長(zhǎng)，對(duì)所述當(dāng)前電力系統(tǒng)進(jìn)行電磁暫態(tài)仿真，獲得對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)仿真結(jié)果；

利用所述待測(cè)仿真結(jié)果、基準(zhǔn)仿真結(jié)果及待測(cè)仿真步長(zhǎng)計(jì)算所述待測(cè)仿真步長(zhǎng)分別對(duì)應(yīng)的準(zhǔn)確度。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，計(jì)算所述待測(cè)仿真步長(zhǎng)分別對(duì)應(yīng)的準(zhǔn)確度具體包括：

S1：利用第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)對(duì)所述基準(zhǔn)仿真結(jié)果進(jìn)行采樣；

S2：計(jì)算采樣后的基準(zhǔn)仿真結(jié)果與第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的待測(cè)仿真結(jié)果之間的第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的相關(guān)系數(shù)，并將所述第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的相關(guān)系數(shù)作為所述第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的準(zhǔn)確度。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，步驟S1中通過下式進(jìn)行采樣，

Ui0(k,j)=U0(k*hihc-1,j)]]>

其中，U_i0(k,j)為所述基準(zhǔn)仿真結(jié)果中第j個(gè)節(jié)點(diǎn)在第k個(gè)采樣時(shí)刻的節(jié)點(diǎn)電壓向量，U₀(x,j)為所述基準(zhǔn)仿真結(jié)果中第j個(gè)節(jié)點(diǎn)在x時(shí)刻的節(jié)點(diǎn)電壓向量，k＝1,2,...,L_i，h_i為第i個(gè)待測(cè)仿真步長(zhǎng)，h_c為基準(zhǔn)仿真步長(zhǎng)，T為仿真總時(shí)間，floor(·)為對(duì)括號(hào)內(nèi)的值進(jìn)行向下取整。