[發明專利]用于檢測多重回波和底部回波的方法

有效

• 申請號: 201210172431.7
• 申請日: 2012-05-25
• 公開（公告）號: CN102809405B
• 公開（公告）日: 2016-11-30
• 發明（設計）人: 羅蘭·韋勒
• 申請（專利權）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王萍;李春暉

1.一種用于確定容器內的物位位置和/或分離層位置的物位測量設備，所述物位測量設備包括：

回波曲線檢測單元，用于檢測回波曲線；

回波識別單元，用于在所述回波曲線中識別至少兩個回波；以及

速度檢測單元，用于檢測所述至少兩個回波的速度值；

其中，所述物位測量設備被配置成將所識別回波中的一個回波假定為物位回波，接著，通過考慮所檢測到的速度值的比值的符號對至少一個其他回波進行回波分類，

其中，所述回波分類將所述回波曲線中的至少兩個所識別的回波分配以選自包括如下特征類別的組中的特征類別：底部回波、多重回波、反相關性回波和物料回波。

2.根據權利要求1所述的物位測量設備，還包括：

統計單元，所述統計單元用于評估至少兩個回波的共享特征的統計特性，所述共享特征為所述至少兩個回波中的兩個回波的所檢測到的速度值的比值；

其中，所述物位測量設備被配置成對所述回波曲線中的至少兩個所識別的回波進行回波分類，作為評估所識別的回波的共享特征的統計特性的結果。

3.根據前述權利要求中任一項所述的物位測量設備，還包括：

跟蹤單元，所述跟蹤單元將所識別的回波置于與之前識別的回波的邏輯關系中；以及

所述跟蹤單元在所述回波曲線中缺失回波的情況下估計所述回波的可能位置。

4.根據前述權利要求中任一項所述的物位測量設備，

其中，所述統計單元確定至少一對所識別的回波的特征。

5.根據權利要求2至4中任一項所述的物位測量設備，

其中，所述統計單元將所述回波分類表示為直方圖，在所述直方圖中，每個可能的特征類別被分配一個概率，該概率表示相應的回波屬于相應的特征類別的統計概率有多大。

6.根據前述權利要求中任一項所述的物位測量設備，

所述物位測量設備被配置成使得通過檢測和評估另外的回波曲線來確認或修改所述回波分類。

7.根據前述權利要求中任一項所述的物位測量設備，

所述物位測量設備被配置成用于同時識別多重回波和底部回波。

8.一種用于確定容器內的物位位置和/或分離層位置的方法，所述方法包括如下步驟：

檢測回波曲線；

在所述回波曲線中識別至少兩個回波；

檢測所述至少兩個回波的速度值；

將所述至少兩個回波中的一個回波假定為物位回波；以及

通過考慮所檢測到的速度值的比值的符號對至少一個剩余回波進行回波分類；

其中，所述回波分類將所述回波曲線中的至少兩個所識別的回波分配以選自包括如下特征類別的組中的特征類別：底部回波、多重回波、反相關性回波和物料回波。

9.根據權利要求8所述的方法，還包括如下步驟：

(a1)在所述回波曲線中識別多個回波；以及

(b)對所述回波曲線中的至少兩個回波進行回波分類，作為評估所識別的回波的共享特征的統計特性的結果；

其中，所述回波分類將所述回波曲線中的至少兩個所識別的回波分配以選自包括如下特征類別的組中的特征類別：底部回波、多重回波、反相關性回波和物料回波。

10.根據權利要求8或9所述的方法，還包括如下步驟：

將所識別的回波中的另一個回波假定為所述物位回波；

對至少一個剩余回波進行回波分類；

其中，每個回波分類包括對至少一個另外的所識別的回波進行分類并且計算正確分類的相應概率。

11.根據權利要求8至10中任一項所述的方法，還包括如下步驟：

通過檢測另外的回波曲線并執行至少步驟(a1)和(b)以及適應性修改正確分類的相應概率來確認或修改所述回波分類。