[發明專利]光學觸控模塊的檢測系統及其自動檢測方法

在審

• 申請號: 201210170325.5
• 申請日: 2012-05-29
• 公開（公告）號: CN103389835A
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發明（設計）人: 張立勛;陳裕彥;黃博亮;鄭凱中
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明涉及一種光學觸控模塊的檢測系統及其自動檢測方法，特別是涉及一種可自動調整光學式觸控模塊的擷取方向的檢測系統及其自動檢測的方法。

背景技術

隨著科技的進步，現已經發展出一種光學式觸控模塊，可以利用光學擷取模塊以得到觸控的訊號。因此測試光學式觸控系統中的光學擷取模塊的擷取角度是否正確是制造光學式觸控系統的必定測試流程。以現有技術的安裝流程來說，光學擷取模塊通常是以屏幕對角線與外框夾45度角的方向來進行組裝，以達到最佳的可視角。但光學擷取模塊內部的組裝可能有所偏差，造成擷取出的影像的方向有誤差，因此若用相同的流程組裝，就無法達到最佳可視角的目的。

有鑒于此，因此需要發明一種新的光學觸控模塊的檢測系統及其自動檢測的方法，以解決現有技術的缺失。

發明內容

本發明的主要目的是提供一種光學觸控模塊的檢測系統，其具有可自動調整光學式觸控模塊的擷取方向的效果。

本發明的另一主要目的是提供一種用于上述系統的自動檢測的方法。

為實現上述的目的，本發明的光學觸控模塊的檢測系統用以測試光學式觸控模塊。光學式觸控模塊包括接觸面及光學擷取模塊，光學擷取模塊設置于接觸面以對接觸面擷取得影像訊號。檢測系統包括控制模塊、第一測試件、第二測試件及旋轉夾具。控制模塊電性連接光學擷取模塊。第一測試件用以放置于接觸面上以供光學擷取模塊擷取得第一測試訊號。第二測試件用以放置于接觸面上以供光學擷取模塊擷取得第二測試訊號。旋轉夾具電性連接于控制模塊并用以連接至光學擷取模塊，其中控制模塊判斷影像訊號中是否同時具有第一測試訊號及第二測試訊號，若否，則控制旋轉夾具以轉動光學擷取模塊以調整擷取方向。

本發明的自動檢測的方法包括以下步驟：提供第一測試件以放置于接觸面上；提供第二測試件以放置于接觸面上；提供光學擷取模塊擷取第一測試件及第二測試件以得到影像訊號；判斷影像訊號中是否同時具有第一測試訊號及第二測試訊號，其中第一測試訊號及第二測試訊號分別對第一測試件及第二測試件擷取而得；以及若否，則轉動光學擷取模塊以調整擷取方向。

附圖說明

圖1A是本發明的檢測系統測試光學式觸控模塊的第一實施例的示意圖。

圖1B是本發明的檢測系統于第一實施例下的影像訊號的曲線座標圖。

圖2A是本發明的檢測系統測試光學式觸控模塊的第二實施例的示意圖。

圖2B是本發明的檢測系統于第二實施例下的影像訊號的曲線座標圖。

圖3是本發明的自動檢測的方法的步驟流程圖。

附圖符號說明

檢測系統10

控制模塊11

旋轉夾具12

發光模塊13

第一測試件21

第二測試件22

光學式觸控模塊30

光學擷取模塊31

接觸面32

影像訊號的曲線C1、C2

第一測試訊號S1

第二測試訊號S2

具體實施方式

為使本發明的上述和其他目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明的具體實施例，并結合附圖詳細說明如下。

請先參考圖1A本發明的檢測系統測試光學式觸控模塊的第一實施例的示意圖。

本發明的檢測系統10用以測試光學式觸控模塊30內的光學擷取模塊31是否正常。光學式觸控模塊30具有至少一光學擷取模塊31及接觸面32。光學擷取模塊31設置于接觸面32的邊緣，光學擷取模塊31較佳的實施方式設置于接觸面32的相鄰兩角，在圖1A中是以設置于接觸面32的一角為例進行說明，但本發明并不限于此。光學擷取模塊31對接觸面32進行影像擷取，以得到影像訊號。接觸面32的表面為一光滑平面，以減少光學擷取模塊31擷取到的雜訊。接觸面32的四周還可具有反光邊條（圖未示），使得光學擷取模塊31具有較佳的擷取效果。由于光學式觸控模塊30的作用原理已經被本領域技術人員所廣泛應用，故在此不再贅述。

檢測系統10包括第一測試件21、第二測試件22、控制模塊11、旋轉夾具12與發光模塊13。第一測試件21與第二測試件22靠近接觸面32的邊界，且放置于接觸面32上相對的角落，以代表接觸面32預定提供使用者接觸的最大區域范圍。第一測試件21與第二測試件22可為反光材質，以模擬觸控筆或手指的反射訊號。因此光學擷取模塊31可針對第一測試件21與第二測試件22分別擷取出第一測試訊號S1與第二測試訊號S2。