[發明專利]一種掃描切片測試數據編碼方法及裝置

有效

• 申請號: 201210169424.1
• 申請日: 2012-05-28
• 公開（公告）號: CN102708929A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 吳殿丞;朱浩;王東輝;洪纓;候朝煥
• 申請（專利權）人: 中國科學院聲學研究所
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京億騰知識產權代理事務所 11309
• 代理人: 陳霽

1.一種掃描切片測試數據編碼方法，所述方法利用了對所述掃描切片進行相容性關系分析的第一參考切片和第二參考切片，其特征在于，所述方法包括步驟：

從第一個掃描切片開始，依次分析各當前掃描切片與所述第一參考切片或者第二參考切片的相容性關系，并根據當前掃描切片與所述當前掃描切片的相容性關系分析結果生成用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一參考切片和第二參考切片，所述相容性關系分析結果包括與第一參考切片直接相容、與第二參考切片直接相容、與第一參考切片移位相容、與第二參考切片移位相容以及與第一參考切片和第二參考切片都不相容，其中，所述直接相容的類型包括直接相等和直接互補，移位相容的類型包括移位相等和移位互補;

從倒數第二個掃描切片開始，依次根據所述當前掃描切片相容性分析結果，以及用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一參考切片或第二參考切片，對所述用于分析當前掃描切片相容性關系的第一參考切片或第二參考切片中的無關位進行回溯賦值；

根據所述當前掃描切片的相容性分析結果，以及所述用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一參考切片或第二參考切片對當前掃描切片進行編碼；如果所述當前掃描切片的相容性分析結果為不相容，則當前掃描切片的編碼碼字由用于表征相容性分析結果的比特以及所述用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一參考切片組成；如果所述當前掃描切片的相容性分析結果為與第一/第二參考切片直接相容，則當前掃描切片的編碼碼字由用于表征其相容性分析結果的比特和用于表征所述直接相容的類型的比特組成；如果所述當前掃描切片的相容性分析結果為與第一/第二參考切片移位相容，則當前掃描切片的編碼碼字由用于表征其相容性分析結果的比特、用于表征所述移位相容類型的比特，以及所述用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一/第二參考切片的第一位組成。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，如果當前掃描切片的相容性分析結果為與第一/第二參考切片直接相容，那么所述生成用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一和第二參考切片具體包括：如果當前掃描切片與所述第一/第二參考切片直接相等，則利用當前掃描切片與第一/第二參考切片進行求交運算后的結果作為用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一/第二參考切片，用于分析后一個掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片與用于分析當前掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片相等；如果當前掃描切片與所述第一/第二參考切片直接互補，則利用對掃描切片求反后的值與第一/第二參考切片進行求交運算后的結果作為用于分析后一個掃描切片相容性的第一/第二參考切片，用于分析后一個掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片與用于分析當前掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片相等。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，如果當前掃描切片的相容性分析結果為與第一/第二參考切片移位相容，那么所述生成用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一和第二參考切片具體包括：如果當前掃描切片與所述第一/第二參考切片移位相等，則利用當前掃描切片與移位后的第一參考切片/移位后的第二參考切片進行求交運算后的結果作為用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一/第二參考切片，用于分析后一個掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片與用于分析當前掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片相等；如果當前掃描切片與所述第一/第二參考切片移位互補，則利用對掃描切片求反后的值與移位后的第一參考切片/移位后的第二參考切片進行求交運算后的結果作為用于分析后一個掃描切片相容性的第一/第二參考切片，用于分析后一個掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片與用于分析當前掃描切片相容性關系的第二/第一參考切片相等。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，如果當前掃描切片的相容性分析結果為不相容，那么所述生成用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一和第二參考切片具體包括：用于分析后一個掃描切片相容性關系的第一參考切片與當前掃描切片相等，用于分析后一個掃描切片相容性關系的第二參考切片與用于分析當前掃描切片相容性關系的第一參考切片相等。

5.如權利要求1-4之一的方法，其特征在于，如果當前掃描切片的相容性分析結果為與第一/第二參考切片直接相容，那么所述對用于分析當前掃描切片相容性關系的第一參考切片或第二參考切片中的無關位進行回溯賦值具體包括：用于分析所述當前掃描切片的第一/第二參考切片與所述用于分析后一個掃描切片的第一/第二參考切片相等。