[發明專利]絕緣子RTV涂層老化的判斷方法無效
| 申請號: | 201210168176.9 | 申請日: | 2012-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN102680560A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發明(設計)人: | 屠幼萍;王景春;丁立健;陳靜靜;張輝;陳聰慧;王璁 | 申請(專利權)人: | 華北電力大學 |
| 主分類號: | G01N27/60 | 分類號: | G01N27/60 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明;余剛 |
| 地址: | 102206 北京市昌平區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 絕緣子 rtv 涂層 老化 判斷 方法 | ||
1.一種絕緣子RTV涂層老化的判斷方法,其特征在于,包括:
對絕緣子RTV涂層進行取樣得到試片;
對所述試片進行電聲脈沖法PEA空間電荷測試,以得到所述試片的空間電荷密度分布曲線;
根據所述試片的空間電荷密度分布曲線計算得出所述試片的空間電荷總量;
根據所述試片的空間電荷總量判斷所述RTV涂層的老化程度。
2.根據權利要求1所述的判斷方法,其特征在于,
對絕緣子RTV涂層進行取樣得到試片之前還包括:
對已知老化程度的RTV涂層試片進行PEA空間電荷測試,以得到空間電荷密度的標準分布曲線;
根據所述標準分布曲線計算得出標準空間電荷總量,
根據所述試片的空間電荷總量判斷所述RTV涂層的老化程度包括:
將所述試片的空間電荷總量與所述標準空間電荷總量進行比較;
根據比較結果得出所述試片的老化程度;
利用所述試片的老化程度確定RTV涂層的老化程度。
3.根據權利要求2所述的判斷方法,其特征在于,
對已知老化程度的RTV涂層試片進行PEA空間電荷測試,以得到空間電荷密度的標準分布曲線包括:對多種型號的已知老化程度的RTV涂層分別進行PEA空間電荷測試以得到多種型號的RTV涂層的空間電荷密度的標準分布曲線,
根據所述標準分布曲線計算得出標準空間電荷總量包括:
根據所述多種型號的RTV涂層的空間電荷密度的標準分布曲線分別計算得出各型號的RTV涂層的標準空間電荷總量;
按照RTV涂層的型號分別保存該型號對應的標準空間電荷總量,
將所述試片的空間電荷總量與所述標準空間電荷總量進行比較包括:
根據取樣的RTV涂層的型號確定該RTV涂層型號對應的標準空間電荷總量;
將所述試片的空間電荷總量與取樣的RTV涂層的型號對應的標準空間電荷總量進行比較。
4.根據權利要求2或3所述的判斷方法,其特征在于,所述已知老化程度的RTV涂層為沒有老化的RTV涂層。
5.根據權利要求2或3所述的判斷方法,其特征在于,所述已知老化程度的RTV涂層為已經完全老化的RTV涂層。
6.根據權利要求1至3中任一項所述的判斷方法,其特征在于,對絕緣子RTV涂層進行取樣得到試片包括:對絕緣子不同位置的RTV涂層進行取樣得到試片。
7.根據權利要求6所述的判斷方法,其特征在于,對絕緣子不同位置的RTV涂層進行取樣得到試片包括:
將所述絕緣子的傘裙沿半徑劃分為面積相等的扇形區域;
在每個所述扇形區域內的上表面的一個或多個位置對RTV涂層進行取樣得到試片。
8.根據權利要求6所述的判斷方法,其特征在于,根據所述試片的空間電荷密度分布曲線判斷所述RTV涂層的老化程度還包括:
記錄所述試片在絕緣子上的取樣位置、所述試片的空間電荷總量、以及所述試片取樣的絕緣子的運行環境、運行年限。
9.根據權利要求1至3中任一項所述的判斷方法,其特征在于,進行所述PEA空間電荷測試的外加極化電場強度范圍取6kV/mm至8kV/mm,加壓時間范圍取5min至60min,參考信號的電場強度范圍取1kV/mm至2kV/mm,測試脈沖幅值范圍取200V至600V,所述測試脈沖脈寬范圍取2ns至10ns。
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