[發(fā)明專利]機(jī)器人定位誤差測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210165675.2
• 申請(qǐng)日: 2012-05-24
• 公開（公告）號(hào): CN102679925A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 方偉;余蕾斌;薛雷;沈立恒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海飛機(jī)制造有限公司
• 主分類號(hào): G01B21/00
• 分類號(hào): G01B21/00
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 樓仙英;徐年康

1.一種測(cè)量機(jī)器人定位誤差的方法，其包括如下步驟：

提供測(cè)量設(shè)備并設(shè)定被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)P；

在測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下，測(cè)量所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)P的實(shí)際位置；

通過坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，將所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)P在機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系下的位置轉(zhuǎn)換為在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的計(jì)算位置；

計(jì)算所述實(shí)際位置和所述計(jì)算位置的差值，以得到定位誤差。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述坐標(biāo)轉(zhuǎn)換包括：將所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)P在機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系下的位置轉(zhuǎn)換為在機(jī)器人的基坐標(biāo)系下的位置，以及將所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)在所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系下的位置轉(zhuǎn)換為在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的數(shù)學(xué)模型為ΔP＝P_M-^BT_M^T0T_BP_T0，其中：

ΔP：為所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)的位置誤差；

P_M：為所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

^BT_M：為所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系與所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換矩陣；

^T0T_B：為所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系與所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換矩陣；

P_T0：為所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)在所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系下的位置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述機(jī)器人的工具坐標(biāo)系的標(biāo)定是根據(jù)：

在所述機(jī)器人上取兩個(gè)選定位置，將所述兩個(gè)選定位置分別在所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系下的坐標(biāo)以ΔP^mn_B＝^T0T^m_BP_T0-^T0Tⁿ_BP_T0轉(zhuǎn)算為機(jī)器人的基坐標(biāo)系下的坐標(biāo)來計(jì)算在所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系下的坐標(biāo)偏差；

將所述兩個(gè)選定位置以ΔP^mn_M＝P^m_M-Pⁿ_M計(jì)算在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)偏差；以及

以||ΔP^mn_B||₂＝||ΔP^mn_M||₂來計(jì)算所述被測(cè)基準(zhǔn)點(diǎn)在所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；其中：

ΔP^mn_B：為所述兩個(gè)選定位置在所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系下的坐標(biāo)偏差；

^T0T^m_B：為所述兩個(gè)選定位置中的位置m由所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換為所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣；

^T0Tⁿ_B：為所述兩個(gè)選定位置中的位置n由所述機(jī)器人的法蘭盤坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換為所述機(jī)器人的基坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣；

ΔP^mn_M：為所述兩個(gè)選定位置m，n在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)偏差；

P^m_M：為所述兩個(gè)選定位置中的位置m在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

Pⁿ_M：為所述兩個(gè)選定位置中的位置n在所述測(cè)量設(shè)備的坐標(biāo)系下的坐標(biāo)。