[發明專利]一種織物緯斜的檢測方法及其檢測設備無效
| 申請號: | 201210165164.0 | 申請日: | 2012-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN102660862A | 公開(公告)日: | 2012-09-12 |
| 發明(設計)人: | 周正元;劉慶新 | 申請(專利權)人: | 常州信息職業技術學院 |
| 主分類號: | D06H3/12 | 分類號: | D06H3/12;G01B11/26 |
| 代理公司: | 南京正聯知識產權代理有限公司 32243 | 代理人: | 顧伯興 |
| 地址: | 213164 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 織物 檢測 方法 及其 設備 | ||
1.一種織物緯斜的檢測方法,其特征在于:至少包括以下步驟,
(1)所述織物向下或向上移動,所述織物被其一側的光源發出的平行光照射后,織物緯紗的影像通過織物另一側的光學透鏡而成像到光電傳感器上,所述光電傳感器將光信號轉換為電流信號輸出;
(2)織物緯紗可以成像后,調整光學透鏡與光電傳感器之間的距離及光學透鏡、光電傳感器與織物之間的距離,使得透鏡的垂軸放大率β的取值在1.2~1.7范圍之內;
(3)調整好光學透鏡與光電傳感器的位置后,由光電傳感器輸出的最大電流信號獲得織物緯紗在光電傳感器處測得的緯斜。
2.根據權利要求1所述的織物緯斜的檢測方法,其特征在于:所述光電傳感器為微縮硅光電池,所述微縮硅光電池是將n條彼此互不接觸的硅光電池條集成到一片共有基板上而形成,所述n為奇數,在所述n條彼此互不接觸的硅光電池條中處于中間的一條為基準電池條,該基準電池條與水平線的夾角為0°,其余n-1條硅光電池條對稱分布在基準電池條的上下兩側,且其余n-1條硅光電池條與基準電池條之間的夾角皆為銳角。
3.根據權利要求2所述的織物緯斜的檢測方法,其特征在于:所述步驟(2)的具體操作步驟為,
(a)將光學透鏡通過像距移動裝置移動到織物緯紗的像距為最小處,將微縮硅光電池及光學透鏡通過物距移動裝置從距離織物緯紗成像的最大距離向距離織物緯紗成像的最小距離連續移動,連續檢測基準電池條輸出的電流信號為最大值時,存入單片微型計算機存儲器;
(b)將光學透鏡通過像距移動裝置向織物方向移動xmm,所述x為自然數,將微縮硅光電池及光學透鏡通過物距移動裝置從距離織物緯紗成像的最大距離向距離織物緯紗成像的最小距離連續移動,連續檢測基準電池條輸出的電流信號為最大值時,再存入單片微型計算機存儲器;
(c)重復步驟(b),直至將光學透鏡調整到織物緯紗的像距為最大處,此時得到基準電池條輸出的多個電流信號最大值,取該多個電流信號最大值中的最大的數值,將光學透鏡及微縮硅光電池放置于該最大的數值所對應的光學透鏡及微縮硅光電池所在的位置處。
4.根據權利要求3所述的織物緯斜的檢測方法,其特征在于:調整好光學透鏡和微縮硅光電池的位置后,織物向下或向上移動,所述織物被其一側的光源發出的平行光照射后,織物緯紗的影像通過織物另一側的光學透鏡成像到微縮硅光電池上,微縮硅光電池連續輸出電流信號值,取該連續輸出的電流信號值中的最大的一個電流信號值所對應的硅光電池條的傾角獲得織物緯紗在微縮硅光電池測得點的緯斜。
5.根據權利要求2或3或4所述的織物緯斜的檢測方法,其特征在于:所述微縮硅光電池的外形尺寸為12mm×12mm,所述微縮硅光電池上的硅光電池條的條數n=13。
6.一種實現如權利要求5所述的織物緯斜的檢測方法的光電信號檢測頭,包括光源、位于光源后端的殼體、固定于殼體前端的光學透鏡、固定于殼體內部且與光學透鏡水平相對的光電傳感器,其特征在于:還包括像距移動裝置、物距移動裝置,所述光學透鏡與像距移動裝置固定連接,在所述殼體的前端固定連接有前蓋板,在所述殼體內有固定連接于前蓋板的導向套,所述像距移動裝置活動連接于導向套,所述物距移動裝置固定連接于殼體的側面,在所述殼體的側面的下端四角皆固定有滾輪。
7.根據權利要求6所述的實現織物緯斜的檢測方法的光電信號檢測頭,其特征在于:在所述殼體內側的上端表面和下端表面分別有向下凸出、向上凸出的上沿、下沿,所述上沿與下沿垂直相對,在所述上沿與下沿的一側固定有前置放大板,在所述上沿與下沿的另一側固定有光電池板,所述光電傳感器固定于光電池板上。
8.根據權利要求6或7所述的實現織物緯斜的檢測方法的光電信號檢測頭,其特征在于:所述像距移動裝置包括透鏡筒、固定連接于殼體的步進電機、固定于步進電機輸出軸的齒輪一,所述透鏡筒位于導向套內,且透鏡筒與導向套可相對移動,在所述透鏡筒下端有齒條,在所述導向套的下端壁上有方通孔,所述齒輪一穿過方通孔而與透鏡筒下端的齒條相嚙合,所述光學透鏡嵌于透鏡筒內,且在光學透鏡的一側有嵌于透鏡筒內壓緊光學透鏡的壓圈。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于常州信息職業技術學院,未經常州信息職業技術學院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210165164.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:IEC61970CIM模型校驗方法
- 下一篇:用于高溫磨耗應用的聚酰亞胺樹脂





