[發明專利]基于差動比較原理的自準直儀

有效

• 申請號: 201210163692.2
• 申請日: 2012-05-24
• 公開（公告）號: CN102679912A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 劉炳國;劉國棟;楊智勇;陳鳳東;莊志濤
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張果瑞

1.一種基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，它包括激光器(1)、起偏器(2)、聚光鏡(3)、針孔(4)、分光鏡(5)、偏振分光鏡(6)、準直鏡(7)、λ/4波片(8)、平面反射鏡(9)、角錐棱鏡(10)、第一面陣CCD(11)和第二面陣CCD(12)；

在激光器(1)發射的光的光軸上依次設置起偏器(2)、聚光鏡(3)、針孔(4)和分光鏡(5)，激光器(1)發射的激光束經起偏器(2)透射之后入射至聚光鏡(3)，經聚光鏡(3)聚焦至針孔(4)，透過針孔(4)之后的光束入射至分光鏡(5)，經分光鏡(5)反射之后的光束入射至偏振分光鏡(6)，經偏振分光鏡(6)透射的光束入射至準直鏡(7)，經準直鏡(7)透射的光束入射至平面反射鏡(9)和λ/4波片(8)，經λ/4波片(8)透射的光束入射至角錐棱鏡(10)，

經平面反射鏡(9)反射的光束沿入射光路返回并入射至偏振分光鏡(6)；經偏振分光鏡(6)透射至分光鏡(5)，經分光鏡(5)透射的光束入射至第一面陣CCD(11)的光敏面；

入射至角錐棱鏡(10)的光束反射后沿入射光路返回，順次經λ/4波片(8)和經準直鏡(7)透射后入射至偏振分光鏡(6)，經偏振分光鏡(6)反射之后的光束入射至第二面陣CCD(12)的光敏面。

2.根據權利要求1所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，角錐棱鏡(10)設置在準直鏡(7)的光軸上，角錐棱鏡(10)的反射面與平面反射鏡(9)的反射面位于同一平面上，且固定連接，角錐棱鏡(10)能夠沿準直鏡(7)的光軸做一維直線運動。

3.根據權利要求2所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，角錐棱鏡(10)的移動范圍為0至80米。

4.根據權利要求1所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，角錐棱鏡(10)和平面反射鏡(9)的分光比為1∶1或1∶2。

5.根據權利要求1所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，分光鏡(5)的分光比為1∶1。

6.根據權利要求1所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，起偏器(2)的偏正角與偏振分光鏡(6)相匹配。

7.根據權利要求1所述的基于差動比較原理的自準直儀，其特征在于，激光器(1)發射的光的波長、起偏器(2)透射的光的波長、分光鏡(5)反射的光的波長、偏振分光鏡(6)反射的光的波長和角錐棱鏡(10)反射的光的波長均為525納米。