[發(fā)明專利]一種直拉單晶生產(chǎn)過程中的除雜方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210162057.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103422159A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余思明;程佑富 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江錦鋒光伏科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | C30B15/20 | 分類號(hào): | C30B15/20;C30B29/06 |
| 代理公司: | 杭州之江專利事務(wù)所(普通合伙) 33216 | 代理人: | 林蜀 |
| 地址: | 324300 浙江省衢州市*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 直拉單晶 生產(chǎn)過程 中的 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種直拉單晶生產(chǎn)過程中的除雜方法。
背景技術(shù)
目前,在直拉單晶生產(chǎn)過程中,當(dāng)硅料全部熔化成硅熔液后,像石英碎片、石墨碎片等熔點(diǎn)高于硅的熔點(diǎn)(1420度)的雜質(zhì),將漂浮在液面上。硅熔液揮發(fā)后,這些不熔雜質(zhì)將漂浮在石英坩堝壁周圍,在放肩及等徑過程中易漂出粘污晶肩及晶棒上,造成脫棱,甚至影響硅棒的內(nèi)在質(zhì)量及內(nèi)在參數(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供能提高硅的純度,促進(jìn)硅單晶生長(zhǎng)的一種直拉單晶生產(chǎn)過程中的除雜方法。
本發(fā)明采取的技術(shù)方案是:一種直拉單晶生產(chǎn)過程中的除雜方法,其特征在于它采取以下步驟,A:將單晶爐內(nèi)溫度升溫到硅的熔點(diǎn),使硅料全熔成液體;B:將單晶爐內(nèi)溫度降至引晶溫度,把籽晶插入硅熔液液面;C:降低單晶爐內(nèi)溫度10~20℃,直接進(jìn)行放肩、轉(zhuǎn)肩、等徑操作,等徑長(zhǎng)度控制在1.5cm~2.5cm之間,直徑控制在120mm以上;D:快速吊起硅晶體,使硅晶體下端離開液面達(dá)35~45㎝并冷卻10~20分鐘;同時(shí),將堝轉(zhuǎn)降低使單晶爐內(nèi)溫度快速回升,停止晶轉(zhuǎn)并降低堝升至距離導(dǎo)流筒4~6㎝;此時(shí),硅晶體的底部會(huì)形成內(nèi)凹面;E:當(dāng)單晶爐內(nèi)溫度升溫至到比引晶溫度高出10~20℃時(shí),將硅晶體具有內(nèi)凹面的一面略微插入液面,停留一定時(shí)間,硅熔液液面的不可熔雜質(zhì)會(huì)逐漸吸附在硅晶體上;F:使用硅晶體間斷地緩慢地提升,充分吸附不可熔雜質(zhì),直至取出含雜質(zhì)硅晶體,去雜完成。
采用本發(fā)明,因?yàn)楣杈w的內(nèi)凹面會(huì)帶著一部分惰性氣體進(jìn)入硅熔液,氣體因?yàn)闊崦浀奶匦裕南蚬杈w的四周并冒泡;同時(shí),硅晶體的溫度比硅熔液低,氣體的熱脹鼓泡會(huì)帶走硅晶體底部及周圍的熱量,形成更低的局部溫度,不可熔雜質(zhì)便會(huì)逐漸吸附在硅晶體上,這樣,能最大限度地使高于硅熔點(diǎn)的所有不可熔雜質(zhì)通過吸附后除去,不被熔入熔硅中,大大提高了硅的純度,促進(jìn)了硅單晶生長(zhǎng),提高了硅單晶的產(chǎn)品質(zhì)量。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)發(fā)明作進(jìn)一步說明。它包括以下步驟:
1、將單晶爐內(nèi)溫度升溫到硅的熔點(diǎn)1400~1440℃,使硅料全熔成液體;
2、將單晶爐內(nèi)溫度降至引晶溫度1330~1370℃,把籽晶插入硅熔液液面;3、降低單晶爐內(nèi)溫度至1310~1360℃,按常規(guī)方法直接進(jìn)行放肩、轉(zhuǎn)肩、
等徑操作;等徑長(zhǎng)度控制在1.5cm~2.5cm之間,直徑控制在120mm以上;
4、快速吊起硅晶體(吊肩),使硅晶體(吊肩)下端離開液面達(dá)35~45㎝,并冷卻10~20分鐘;同時(shí),將堝轉(zhuǎn)由原來的6~8轉(zhuǎn)/分鐘降低至1~3轉(zhuǎn)/分鐘,使單晶爐內(nèi)溫度快速回升,停止晶轉(zhuǎn),并降低堝升至距離導(dǎo)流筒4~6㎝;此時(shí),硅晶體(吊肩)的底部會(huì)形成內(nèi)凹面;
5、當(dāng)單晶爐內(nèi)溫度升溫至到比引晶溫度高出1340~1390℃時(shí),將硅晶體(吊肩)具有內(nèi)凹面的一面略微插入液面,停留2~3分鐘,硅熔液液面的不可熔雜質(zhì)會(huì)逐漸吸附在硅晶體(吊肩)上;F:使用硅晶體(吊肩)間斷地緩慢地提升,充分吸附不可熔雜質(zhì),直至取出含雜質(zhì)硅晶體(吊肩),去雜完成。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江錦鋒光伏科技有限公司,未經(jīng)浙江錦鋒光伏科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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