[發明專利]一種用于特定化合物碳同位素分析系統的氧化反應裝置

有效

• 申請號: 201210160903.7
• 申請日: 2012-05-22
• 公開（公告）號: CN102680613A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 李中平;李立武;陶明信;曹春輝;杜麗;王廣;徐義
• 申請（專利權）人: 中國科學院地質與地球物理研究所蘭州油氣資源研究中心
• 主分類號: G01N30/06
• 分類號: G01N30/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于特定化合物碳同位素分析系統的氧化反應裝置，其特征是：包括氧化加熱爐體（21）和連接在氧化加熱爐體（21）上的電源導線（22）以及熱電偶（23），所述的氧化加熱爐體（21）內填充有氧化-催化材料，氧化加熱爐體（21）兩端分別開設有第一陶瓷毛細管色譜柱（15-1）和第二陶瓷毛細管色譜柱（15-2）；所述的第一陶瓷毛細管色譜柱（15-1）和第二陶瓷毛細管色譜柱（15-2）是相互連接的貫穿于氧化加熱爐體（21）的一體式結構；第一陶瓷毛細管色譜柱（15-1）和第二陶瓷毛細管色譜柱（15-2）上分別連接有第一氧化裝置接口（17-1）和第二氧化裝置接口（17-2），第一氧化裝置接口（17-1）上連接有氣相色譜（1），第二氧化裝置接口（17-2）上連接有干燥裝置（24），干燥裝置（24）連接有同位素比率質譜（3）。

2.根據權利要求1所述的一種用于特定化合物碳同位素分析系統的氧化反應裝置，其特征是:所述的氣相色譜（1）包括色譜柱（11）和與色譜柱（11）相連接的分流閥（12），色譜柱（11）的輸入端連接有GC進樣口（13），色譜柱（11）的輸出端與分流閥（12）相連接，分流閥（12）上分別連通有FID（14）和尾吹閥（16）以及第一氧化裝置接口（17-1）。

3.根據權利要求1所述的一種用于特定化合物碳同位素分析系統的氧化反應裝置，其特征是:所述的同位素比率質譜（3）包括與干燥裝置（24）相連接的IRMS離子源（31）和扇形磁場（32）以及信號接收器（33），IRMS離子源（31）的輸入端連接有參考氣體（34），IRMS離子源（31）的輸出端與扇形磁場（32）相連接，扇形磁場（32）與信號接收器（33）相連接。