[發(fā)明專利]一種小型開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210160727.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102707244A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張進(jìn)峰;顏友鈞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州市職業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40 |
| 代理公司: | 蘇州銘浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32246 | 代理人: | 張一鳴 |
| 地址: | 215104 江蘇省蘇州市吳中*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 小型 開(kāi)關(guān)電源 性能 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種小型開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:該小型開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)包括CPU處理芯片、顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元、信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元、測(cè)試系統(tǒng)電源和電子負(fù)載,所述CPU處理芯片上通過(guò)數(shù)據(jù)線連接有顯示單元、數(shù)據(jù)電腦、測(cè)試系統(tǒng)設(shè)定單元和信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元;信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元一路輸入點(diǎn)通過(guò)連動(dòng)開(kāi)關(guān)K1連接到被測(cè)試開(kāi)關(guān)電源的一個(gè)輸出點(diǎn)和測(cè)試系統(tǒng)電源,信號(hào)測(cè)試轉(zhuǎn)化單元另一路輸入點(diǎn)通過(guò)連動(dòng)開(kāi)關(guān)K2連接到電子負(fù)載,被測(cè)試開(kāi)關(guān)電源的另一個(gè)輸出點(diǎn)通過(guò)連動(dòng)開(kāi)關(guān)K2連接到電子負(fù)載,電子負(fù)載設(shè)有GND接線點(diǎn)連接到GND。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小型開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述數(shù)據(jù)電腦設(shè)有數(shù)據(jù)比對(duì)庫(kù)。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 高速高壓開(kāi)關(guān)電源
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