[發明專利]觸控裝置及其觸控點位置校準方法

有效

• 申請號: 201210160473.9
• 申請日: 2012-05-22
• 公開（公告）號: CN103425308A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 柯杰斌
• 申請（專利權）人: 宏碁股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 臧建明

技術領域

本發明是有關于一種觸控裝置及其觸控點位置校準方法，且特別是有關于一種可提高使用者觸控準確率的觸控裝置及其觸控點位置校準方法。

背景技術

近年來，隨著觸控技術的進步以及電子產品的各項應用的快速發展，觸控裝置已變得十分普及。但往往使用者在使用具有觸控功能的電子產品時，使用者所欲得到的觸控點與實際電子產品所檢測到的點實際上常產生位置上的落差，此落差通常為一垂直位置的誤差，現今一般觸控裝置的設計很少將此落差做為判讀觸控點位置的影響因素之一，因此常常發生使用者無法按照所預期得到的觸控點位置的情形。且隨著使用著操作裝置的方式不同，這種偏差問題更顯嚴重。

舉例來說，圖1為已知的調整觸控點位置的示意圖。請參照圖1，一般已知的觸控點位置校準方式為先利用使用者使用的輸入工具(例如手指或觸控筆)接觸觸控裝置的面積計算出中心點做為一原始觸控點位置P1(如圖1左圖所示)，然后再以原始觸控點位置P1為基準，在其上方(如圖1右圖所示)一預設距離處的位置做為校準觸控點位置P2。此方式雖可達到觸控點位置校準的目的，然因使用者使用觸控裝置的方式并不相同，例如使用者可能以單手握住觸控裝置進行操作，也可能以雙手握住觸控裝置進行操作，此外，使用者觸擊觸控裝置的角度也有可能不同，這些原因都會降低已知觸控點位置校準的準確度。基于上述原因，已知的觸控點位置校準方式僅在特定的條件下才具有準確性。

發明內容

本發明提供一種觸控裝置及其觸控點位置校準方法，可提高使用者的觸控動作的準確率。

本發明提出一種觸控裝置，包括一觸控檢測單元、一空間狀態檢測單元以及一控制單元。其中觸控檢測單元檢測使用者的觸控動作，以產生一觸控信號。空間狀態檢測單元檢測觸控裝置的空間狀態。控制單元耦接觸控檢測單元與空間狀態檢測單元，依據觸控信號判讀出一原始觸控點位置，并依據觸控裝置的空間狀態調整原始觸控點位置，以得到一校準觸控點位置。

在本發明一實施例中，上述的控制單元還依據觸控裝置的空間狀態判斷使用者拿持觸控裝置的方式，并據以調整原始觸控點位置。

在本發明一實施例中，上述的控制單元還依據使用者拿持觸控裝置的方式在觸控檢測單元上定義出多個預設觸控區域，并依據各預設觸控區域所對應的觸控點位置調整參數調整原始觸控點位置。

本發明也提出一種觸控裝置的觸控點位置校準方法，包括下列步驟。檢測觸控裝置的空間狀態。檢測使用者的一觸控動作，以產生一觸控信號。依據觸控信號判讀出一原始觸控點位置。依據觸控裝置的空間狀態調整原始觸控點位置，以得到一校準觸控點位置。

在本發明一實施例中，上述的觸控裝置的空間狀態包括觸控裝置的傾斜角度以及運動狀態。

在本發明一實施例中，上述的運動狀態包括擺動與震動。

在本發明一實施例中，上述依據觸控裝置的空間狀態調整原始觸控點位置的步驟包括依據觸控裝置的空間狀態判斷使用者拿持觸控裝置的方式，并據以調整觸控信號所對應的觸控位置。

在本發明一實施例中，上述調整觸控信號所對應的觸控位置的步驟包括下列步驟。依據使用者拿持觸控裝置的方式在觸控檢測單元上定義出多個預設觸控區域。依據各預設觸控區域所對應的觸控點位置調整參數調整觸控位置。

在本發明一實施例中，上述觸控點位置調整參數包括校準觸控點位置相對于原始觸控點位置的方位與距離。

基于上述，本發明藉由依據觸控裝置的空間狀態來調整原始觸控點位置，以得到校準觸控點位置，讓使用者可更容易觸控到所欲觸控的位置，進而大幅降低誤操作的情形。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1為已知的調整觸控點位置的示意圖；

圖2為本發明一實施例的觸控裝置的示意圖；

圖3為本發明一實施例的調整觸控點位置的示意圖；

圖4為本發明一實施例的觸控裝置的空間狀態示意圖；

圖5A-5C為本發明另一實施例的調整觸控點位置的示意圖；

圖6為本發明一實施例的觸控裝置的觸控點位置校準方法。

附圖標記說明：

P1：原始觸控點位置；

P2：校準觸控點位置；

200：觸控裝置；

202：觸控檢測單元；

204：空間狀態檢測單元；

206：控制單元；

S1：觸控信號；

X1、Y1：原始坐標軸；