[發明專利]電容式觸摸屏的測試方法及其測試設備

有效

• 申請號: 201210160423.0
• 申請日: 2012-05-23
• 公開（公告）號: CN102654543A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發明（設計）人: 潘翼輝
• 申請（專利權）人: 東莞通華液晶有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 東莞市冠誠知識產權代理有限公司 44272
• 代理人: 張作林

1.一種電容式觸摸屏的測試方法，包括IC功能測試，所述的IC功能測試包括如下步驟：寫入固件至驅動IC中，從驅動IC的指定堆棧中讀取固件的版本號并且核對，其特征在于，還包括功耗測試、短路測試和開路測試，

所述的開路測試包括如下步驟：

a1.通過驅動IC讀取觸摸屏上的各個ITO傳感器的電容值，并且定義每個ITO傳感器讀取的電容值為對應ITO傳感器的電容參考值；

a2.設置一支緊貼且橫向跨越觸摸屏表面的金屬圓棒，所述的金屬圓棒與觸摸屏的行方向平行；

a3.自觸摸屏頂端向底端滾動金屬圓棒，金屬圓棒每經過一行傳感器分別讀取所有ITO傳感器變化時的電容值；

a4.判斷每個ITO傳感器的電容值是否有從電容參考值至高于接觸參考電容值至不高于回落參考電容值的變化，不滿足條件則判斷該ITO傳感器線路為開路；

a5.檢測金屬圓棒的滾動是否到達觸摸屏的底端，若已滾動至底端則執行下一步驟，否則繼續滾動；

所述的短路測試包括如下步驟：

b1.驅動IC內部寄存器依次對每個ITO傳感器增加一固定的電容值；

b2.依次對每個ITO傳感器增加電容值時讀取該ITO傳感器的電容值同時讀取其他ITO傳感器的電容值；

b3.通過計算得出該ITO傳感器的電容值與第一短路參考值之間的漏電差值、其他ITO傳感器的電容值分別與第二短路參考值之間的充電差值；

b4.判斷每次增加電容值后的該ITO傳感器的漏電差值是否低于漏電參考電容值、其他ITO傳感器的充電差值是否高于充電參考電容值，同時滿足條件則判斷該ITO傳感器線路為短路；

所述的功耗測試包括如下步驟：測量驅動IC各電源線的電流值并與各電源線設定的電流參考值作比較，如超過一設定范圍則判斷驅動IC異常。

2.根據權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于：每個ITO傳感器的電容參考值之間、接觸參考電容值之間、回落參考電容值之間相同或不相同，每個ITO傳感器對應的接觸參考電容值大于回落參考電容值，回落參考電容值大于電容參考值。

3.根據權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于：步驟a5中分別檢測觸摸屏的頂部與底部所在行的ITO傳感器的電容值是否先后高于接觸參考電容值，以確定金屬圓棒的滾動是否結束。

4.一種實現權利要求1的電容式觸摸屏的測試設備，包括屏幕測試板塊及電路檢測板塊，其特征在于：所述的屏幕測試板塊包括金屬圓棒和屏幕定位槽，所述的金屬圓棒緊貼屏幕測試板且金屬圓棒的兩端分別位于屏幕定位槽兩側；所述的電路檢測板塊包括供電模塊、LCD顯示模塊、功耗檢測模塊、測試板塊連接端、MCU控制模塊和IC芯片模塊，所述的測試板塊連接端與屏幕測試板塊上的測試接口連接。

5.根據權利要求4所述的電容式觸摸屏的測試設備，其特征在于：所述的屏幕測試板塊還包括推動把手，所述推動把手連接金屬圓棒的兩端。