[發(fā)明專利]一種提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210158369.6
• 申請(qǐng)日: 2012-05-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103428718A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 辛小楓;張孝中
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號(hào): H04W24/00
• 分類號(hào): H04W24/00;H04L1/00
• 代理公司: 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 張紅玉

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及無(wú)線通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種提高斷續(xù)發(fā)射（DTX）檢測(cè)性能的方法及裝置。

背景技術(shù)

在長(zhǎng)期演進(jìn)（Long?Term?Evolution，LTE）等系統(tǒng)中，為了判斷用戶設(shè)備（UE）從基站接收的混合自動(dòng)重傳請(qǐng)求（Hybrid-ARQ，HARQ）是確認(rèn)（ACK）還是否定確認(rèn)（NACK）或是判斷UE是否發(fā)送了資源請(qǐng)求（SR），就需要對(duì)上行控制信道（PUCCH）進(jìn)行檢測(cè)。根據(jù)LTE?211協(xié)議，多個(gè)UE將使用相同頻率資源碼分發(fā)送信息，其中UE根據(jù)自身需求可能將信息發(fā)送在多個(gè)指定碼道其中的一個(gè)。所以需要檢測(cè)對(duì)應(yīng)碼道上UE是否發(fā)送了數(shù)據(jù)，即DTX檢測(cè)。

目前DTX檢測(cè)方法主要是通過(guò)計(jì)算碼道上信號(hào)質(zhì)量以及信功率設(shè)定判斷門限。認(rèn)為超過(guò)門限則發(fā)送了數(shù)據(jù)，未到達(dá)門限則未發(fā)送數(shù)據(jù)。

而在信號(hào)條件比較復(fù)雜的情況下，由于多徑、時(shí)延以及多設(shè)備間相互影響，使DTX檢測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)漏檢、虛檢測(cè)等問(wèn)題，可能會(huì)極大的影響流量。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述DTX檢測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)漏檢、虛檢測(cè)等問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的方法及裝置，本發(fā)明能夠提高在復(fù)雜環(huán)境下，信號(hào)檢測(cè)的準(zhǔn)確度，從而提高系統(tǒng)的抗干擾能力。

本發(fā)明的提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的方法，計(jì)算檢測(cè)信道上用戶設(shè)備UE信號(hào)的入射角度并記錄信號(hào)時(shí)延信息，與保存的入射角度和信號(hào)時(shí)延信息進(jìn)行比對(duì)，如果比對(duì)結(jié)果一致，則檢測(cè)到發(fā)射端；否則，認(rèn)為發(fā)射端不是期望的發(fā)射端或者是虛檢或未發(fā)送。

其中，預(yù)先根據(jù)天線間距離和不同天線上的相位差x以及信號(hào)的波長(zhǎng)λ，計(jì)算出天線的入射角度θ，并記錄該UE的信號(hào)時(shí)延信息，將該入射角度θ和信號(hào)時(shí)延信息保存。

其中，根據(jù)下列公式計(jì)算入射角度θ：

cosθ·l=(x+2π·n)·λ

其中，l為天線間距離；x為相位差；λ為波長(zhǎng)；n為周期。

其中，所述信號(hào)包括用戶設(shè)備的接入信號(hào)RACH、數(shù)據(jù)導(dǎo)頻信號(hào)RS、或者探測(cè)參考信號(hào)SRS。

其中，在利用入射角度和信號(hào)時(shí)延信息進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，進(jìn)一步設(shè)置信號(hào)質(zhì)量和信號(hào)功率的門限檢測(cè)。

本發(fā)明的提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的裝置，包括檢測(cè)單元和判斷單元，其中，所述檢測(cè)單元，用于計(jì)算檢測(cè)信道上用戶設(shè)備UE信號(hào)的入射角度并記錄信號(hào)時(shí)延信息；判斷單元，用于將檢測(cè)單元計(jì)算的入射角度和記錄的信號(hào)時(shí)延信息與保存的入射角度和信號(hào)時(shí)延信息進(jìn)行比對(duì)，在比對(duì)結(jié)果一致時(shí)，認(rèn)為檢測(cè)到發(fā)射端；在比對(duì)結(jié)果不一致時(shí)，認(rèn)為發(fā)射端不是期望的發(fā)射端或者是虛檢或未發(fā)送。

此外，還可以進(jìn)一步包括預(yù)存儲(chǔ)單元，用于預(yù)先根據(jù)天線間距離和不同天線上的相位差x以及信號(hào)的波長(zhǎng)λ，計(jì)算出天線的入射角度θ，并記錄該UE的信號(hào)時(shí)延信息，將該入射角度θ和信號(hào)時(shí)延信息保存。

其中，在所述預(yù)存儲(chǔ)單元中，根據(jù)下列公式計(jì)算入射角度θ：

cosθ·l=(x+2π·n)·λ

其中，l為天線間距離；x為相位差；λ為波長(zhǎng)；n為周期。

其中，所述信號(hào)包括用戶設(shè)備的接入信號(hào)RACH、數(shù)據(jù)導(dǎo)頻信號(hào)RS、或者探測(cè)參考信號(hào)SRS。

其中，所述檢測(cè)單元，在利用入射角度和信號(hào)時(shí)延信息進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，進(jìn)一步設(shè)置信號(hào)質(zhì)量和信號(hào)功率的門限檢測(cè)。

本發(fā)明的有益效果是：依照本發(fā)明的提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的方法及裝置，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中由于多徑、時(shí)延以及外部設(shè)備的相互影響導(dǎo)致DTX的虛檢和漏檢測(cè)問(wèn)題，能夠提高復(fù)雜環(huán)境下，信號(hào)檢測(cè)的準(zhǔn)確度，提高了系統(tǒng)的抗干擾能力。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的天線入射角的示意圖；

圖2為本發(fā)明的DTX檢測(cè)的流程圖。

具體實(shí)施方式

以下，參考附圖1~2詳細(xì)描述本發(fā)明的提高斷續(xù)發(fā)射DTX檢測(cè)性能的方法及裝置。

方法實(shí)施例

本發(fā)明的方法包括下列步驟：

步驟1：根據(jù)用戶設(shè)備（UE）發(fā)射的信號(hào)信息，計(jì)算不同天線上的相位差x，根據(jù)天線間距離和不同天線上的相位差x以及信號(hào)的波長(zhǎng)λ，計(jì)算出天線的入射角度θ，并記錄該UE的信號(hào)時(shí)延信息，將該入射角度θ和信號(hào)時(shí)延信息保存到資料庫(kù)。

其中，該信號(hào)可以為用戶設(shè)備的接入信號(hào)（RACH）、數(shù)據(jù)導(dǎo)頻（RS）、探測(cè)參考信號(hào)（SRS）等。另外，如圖1所示，可以根據(jù)下列公式計(jì)算入射角度θ：

cosθ·l=(x+2π·n)·λ

其中，l為天線間距離；x為相位差；n為周期。