[發明專利]干涉光場成像高光譜全偏振探測裝置有效
| 申請號: | 201210157888.0 | 申請日: | 2012-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN102680101A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發明(設計)人: | 李建欣;朱日宏;沈華;郭仁慧;馬駿;陳磊;何勇;高志山;王青;孟鑫;姚良濤;周偉;崔艷軍;王小鋒 | 申請(專利權)人: | 南京理工大學 |
| 主分類號: | G01J3/45 | 分類號: | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 朱顯國 |
| 地址: | 210094 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 干涉 成像 光譜 偏振 探測 裝置 | ||
1.一種干涉光場成像高光譜全偏振探測裝置,其特征在于:包括順序配置的前置光學望遠系統(1)、橫向剪切干涉系統(2)、光場成像系統(3)、面陣探測器(4)和信號處理系統(5),目標光依次通過所述前置光學望遠系統(1)、橫向剪切干涉系統(2)、光場成像系統(3),到達面陣探測器(4),信號處理系統(5)從面陣探測器(4)獲取帶有偏振信息的干涉圖像,通過處理得到被探測目標的二維空間圖像、高光譜信息和全Stokes偏振分量。
2.根據權利要求1所述的干涉光場成像高光譜全偏振探測裝置,其特征在于:所述光場成像系統(3)包括同軸順序設置的成像鏡組前組件(31)、偏振片陣列(32)、成像鏡組后組件(33)和光場成像器件(34)。
3.根據權利要求2所述的干涉光場成像高光譜全偏振探測裝置,其特征在于:所述光場成像器件(34)為針孔陣列(341)或微透鏡陣列(342)。
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