[發明專利]回轉窯筒體動態軸線和彎曲的檢測和監測方法及測量系統

有效

• 申請號: 201210157543.5
• 申請日: 2012-05-21
• 公開（公告）號: CN102654396A
• 公開（公告）日: 2012-09-05
• 發明（設計）人: 張云;其他發明人請求不公開姓名
• 申請（專利權）人: 武漢理工大學
• 主分類號: G01B21/22
• 分類號: G01B21/22
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 張安國;伍見

1.一種回轉窯筒體軸線和彎曲的動態檢測和監測方法，在回轉窯外建立直角坐標系X、Y、Z，在回轉窯兩側建立2個間距為D的垂面Ｑ和Ｑ′，在X方向各X_i截面處，i＝1、2……n，測量如下參數以確定回轉窯筒體動態軸線坐標參數：回轉窯水平和垂直直徑線上外徑邊緣3個點分別到垂面Ｑ和Ｑ′及到各檔水平基準平面的垂直距離、坐標系原點到各檔水平基準面的高度H_i、各輪帶與筒體的動態間隙，用1固定的位置傳感器測定筒體旋轉周期，其特征是：

?(1)?平均橫坐標Y_i的確定：平行X軸的2個垂面Ｑ和Ｑ′平行于回轉窯軸線，在垂直于X軸的X=X_i截面處與垂面Ｑ和Ｑ′相交于地面或其它構筑物上的各測點X_i和X_i′上，i＝1、2……n，檢測方法是用1個帶微機的測距測角的儀器分別垂直于垂面Ｑ和Ｑ′，直接測定各輪帶或筒體水平直徑線上外徑2個點到垂面Ｑ和Ｑ′的水平距離數據d_i(j)和d_i(j)′；同理，監測方法是用2i個帶微機的測距測角的儀器垂直于垂面Ｑ和Ｑ′，同時直接測定各外徑第2i個點到垂面Ｑ和Ｑ′的水平距離數據d_i(j)和d_i(j)′；按筒體旋轉周期把筒體分為j等分角度來處理這些測量數據，j＝1、2……m?，計算公式如下：

平均值d_i＝[d_i(1)+?d_i(2)+……d_i(m)]/m?,

平均值d_i′＝[d_i(1)′+d_i(2)′+……d_i(m)′]/m?

垂面Ｑ到各檔筒體軸線的平均橫坐標?Y_i?=[D+?d_i-?d_i′]/2，其第j個分度處橫坐標??Y_i(j)=?[D+?d_i(j?)-?d_i(j?)′]/2；?

(2)?平均縱坐標Z_i的確定：

檢測方法是分別在各X_i處的輪帶或筒體正下方垂直安裝1個短距離測量儀；同理，監測方法是同時在各坐標X_i處垂直安裝第i個短距離測量儀；由短距離測量儀測定回轉窯第j分度處的垂直距離Ｐ_i（j），按筒體旋轉周期把筒體分為j等分角度來處理這些測量數據，用測距測角的儀器測定各檔水平基準面H_i到各自距離測量儀的高度h_i，計算公式如下：

平均垂直距離?Ｐ_i?=[Ｐ_i(1)+?Ｐ_i(2)+……Ｐ_i(m)]/m，

輪帶或筒體的平均半徑?R_?i＝(D-?d_i-?d_i′)?/2，

坐標系原點到各檔筒體軸線的平均縱坐標?Z_i?=?H_i+h_i+Ｐ_i?+(R_?i?-ψ_i/2)?cos?a

式中ψ_i為輪帶動態間隙，當X_i不在輪帶處則間隙ψ_i為0，a為窯體設計斜度。

2.（3）筒體彎曲的確定：

筒體水平偏移總量ΔY_i(j)=Y_i-?Y_i(j)，筒體輪廓變形量ΔＰ_i（j）=Ｐ_i?-Ｐ_i（j），筒體彎曲量=筒體水平偏移總量ΔY_i(j)-對應的筒體輪廓變形量ΔＰ_i（j），把筒體旋轉方位與筒體彎曲量同步關聯，可得到筒體彎曲方位和變化的曲線。