[發明專利]多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路

無效

• 申請號: 201210156612.0
• 申請日: 2012-05-18
• 公開（公告）號: CN102854175A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 劉清振
• 申請（專利權）人: 北京銳光儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 龔燮英

技術領域

本發明涉及一種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路，屬于分析儀器設計技術領域。

背景技術

原子熒光光度計利用原子熒光譜線的波長和強度進行物質定性及定量的檢測方法，是一種優良的痕量分析儀器。它由進樣系統、氫化物發生系統、原子化器、光學系統、光電檢測器、模擬電路、耦合電容C以及模擬和數字信號處理系統組成（見圖1），具有檢出限低、靈敏度高、分析曲線線性范圍寬等優點。在現有分析技術中，原子熒光光度計已廣泛應用于冶金、地質、石油、農業、生物醫學、地球化學、材料科學、環境科學等多個領域，主要用于檢測Ge、Hg、As、Sb、Se、Te、Bi、Sn、Zn、Pb、Cd等元素。

原子熒光光度計設計的基本原理是原子蒸汽吸收特征波長的光輻射之后，原子被激發至高能級，激發態原子接著以輻射方式去活化，由高能級躍遷到較低能級的過程中發射一定波長的原子熒光。當激發光源停止照射之后，發射熒光的過程隨即停止。根據熒光譜線的波長可以進行定性分析。在一定實驗條件下，熒光強度與被測元素的濃度成正比。據此可以進行定量分析。

多通道原子熒光光度計是用同一檢測器，同一數據處理系統對多種元素同時進行測定。在多通道原子熒光光度計的設計中，多道檢測信號由電容耦合到數據處理系統，數據處理系統中各通道處理是相互獨立的，避免了通道間的干擾。但由于電容記憶效應，多道檢測信號會在耦合電容處產生干擾，造成檢測信號測量結果的失真，影響了分析儀器的準確性。

分析儀器的道間干擾是檢驗儀器的重要指標，也是分析儀器在實際應用的基本要求。現有商用原子熒光儀器的道間干擾很難達到國家標準規定的2%指標。大多數廠家采用扣除方法，對干擾進行扣除，實現手段較為復雜，而且操作不便；還有廠家采用加長激發光源的控制周期的方法，雖然能夠達到效果，但對于消除道間干擾只是治標不治本。

發明內容

本發明的目的是為了解決現有多通道原子熒光光度計由于電容記憶效應，多道檢測信號會在耦合電容處產生干擾，造成檢測信號測量結果的失真，影響了分析儀器的準確性問題，進而提供一種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

一種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路，方案一包括：模擬和數字信號處理系統、耦合電容、電阻和受控開關，所述耦合電容的輸出端分別與模擬和數字信號處理系統的輸入端以及電阻的一端相連接，電阻的另一端與受控開關串聯且接地，模擬和數字信號處理系統的輸出端輸出時序控制信號至受控開關。方案二包括：模擬和數字信號處理系統、耦合電容、電阻、受控開關，所述電阻和受控開關串聯連接且并聯在耦合電容的兩端，即電阻的一端與耦合電容的輸出端相連接，受控開關的一端與耦合電容的輸入端相連接，模擬和數字信號處理系統的輸入端與耦合電容的輸出端相連接，模擬和數字信號處理系統的輸出端輸出時序控制信號至受控開關。

本發明在信號通過耦合電容的時間內，受控開關在控制脈沖作用下斷開，使信號能夠耦合到模擬和數字信號處理系統；在下一通道信號進來之前，受控開關在控制脈沖作用下閉合，使得耦合電容能通過電阻快速放電，去除耦合電容存儲的當前通道信號，消除了對下一通道信號的影響。本發明結構簡便，易于實現，可以完全消除道間干擾現象，保證了分析儀器測量的準確性和穩定性。

附圖說明

圖1是現有原子熒光光度計連接結構示意圖；

圖2是第一種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路的連接結構示意圖；

圖3是第二種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路的連接結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合附圖對本發明做進一步的詳細說明：本實施例在以本發明技術方案為前提下進行實施，給出了詳細的實施方式，但本發明的保護范圍不限于下述實施例。

如圖2所示，本實施例所涉及的第一種多通道原子熒光光度計道間干擾消除電路，包括：模擬和數字信號處理系統、耦合電容C、電阻R、受控開關S，所述耦合電容C的輸出端分別與模擬和數字信號處理系統的輸入端以及電阻R的一端相連接，電阻R的另一端與受控開關S串聯且接地，模擬和數字信號處理系統的輸出端輸出時序控制信號至受控開關S。