[發(fā)明專利]可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210155449.6 | 申請日: | 2012-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN102684071A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 余力強;趙玲娟;朱洪亮;吉晨;陸丹;潘教青;王圩 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號: | H01S5/343 | 分類號: | H01S5/343;H01S5/042 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實現(xiàn) 模式 間距 100 ghz 雙模 半導(dǎo)體激光器 | ||
1.一種可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,包括:
一襯底;
一n-InP緩沖層,該n-InP緩沖層制作在襯底上;
一InGaAsP下限制層,該InGaAsP下限制層制作在該n-InP緩沖層上;
一多量子阱有源層,該多量子阱有源層制作在該InGaAsP下限制層上;
一InGaAsP上限制層,該InGaAsP上限制層制作在該多量子阱有源層上,其表面形成有布拉格光柵結(jié)構(gòu),該布拉格光柵結(jié)構(gòu)制作于光柵區(qū);
一p-InP層,該p-InP層制作在該InGaAsP上限制層上;
一p-InGaAsP刻蝕阻止層,該p-InGaAsP刻蝕阻止層制作在該p-InP層上;
一上p-InP蓋層,該上p-InP蓋層制作在該p-InGaAsP刻蝕阻止層上;
一p-InGaAs歐姆接觸層,該p-InGaAs歐姆接觸層制作在該上p-InP蓋層上,在該p-InGaAs歐姆接觸層上形成有隔離溝,該隔離溝將該p-InGaAs歐姆接觸層分為四段;以及分別形成在四段p-InGaAs歐姆接觸層上的金屬電極層;
其中,該p-InGaAs歐姆接觸層分成的四段分別對應(yīng)于該雙模激射半導(dǎo)體激光器的的四段結(jié)構(gòu):前增益區(qū)、相區(qū)、光柵區(qū)和后放大區(qū)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述前增益區(qū)和所述后放大區(qū)稱為有源區(qū),所述相區(qū)和所述光柵區(qū)稱為無源區(qū),無源區(qū)與有源區(qū)的帶隙波長相比,藍(lán)移量為90nm,從而降低波導(dǎo)吸收損耗。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述隔離溝是通過He離子注入的方式成為高阻區(qū),從而實現(xiàn)各電極之間的電隔離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述隔離溝將器件分為四段結(jié)構(gòu),所述隔離溝長度為30至50μm,每段結(jié)構(gòu)中金屬電極層長度分別等于各段結(jié)構(gòu)的長度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,所述前增益區(qū)的長度占總長度的30%至40%,所述相區(qū)的長度占總長度的10%至20%,所述DBR光柵區(qū)的長度占總長度的20%至30%,所述后放大區(qū)的長度占總長度的20%至30%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,通過調(diào)節(jié)前增益區(qū)和后放大區(qū)的注入電流大小,能夠獲得激光器的雙模激射;通過調(diào)節(jié)DBR光柵區(qū)注入電流大小,能夠調(diào)節(jié)激射雙模強度差。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實現(xiàn)模式間距為100GHz的雙模激射半導(dǎo)體激光器,其特征在于,該雙模激射半導(dǎo)體激光器雙模的頻率間隔由前增益區(qū)、相區(qū)、光柵區(qū)三段的總長度決定,頻率間隔差與器件此三段總長度對應(yīng)成反比例關(guān)系。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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