[發明專利]相位陣列式裝置與校正相位陣列式裝置的方法

有效

• 申請號: 201210154340.0
• 申請日: 2012-05-17
• 公開（公告）號: CN102790625A
• 公開（公告）日: 2012-11-21
• 發明（設計）人: 梁鵑伉;詹景宏;余帝谷;鄧志明
• 申請（專利權）人: 聯發科技（新加坡）私人有限公司
• 主分類號: H04B1/40
• 分類號: H04B1/40
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 于淼;張一軍

技術領域

本發明關于一相位陣列式裝置以及用來校正該相位陣列式裝置的一方法，尤指具有一嵌入式校正電路的一相位陣列式收發器與其相關校正方法。

背景技術

相位陣列式收發器可以廣泛地應用在無線通訊系統上。一相位陣列式收發器會包含有多個相位陣列式通道，其中每一個相位陣列式通道會包含有一傳送器以及一接收器。舉例而言，當該相位陣列式收發器操作在一正常的接收信號模式時，該相位陣列式收發器的多個接收器就會提高與其所接收信號的方向相同的通道的增益，而減小與其所接收信號的不同方向的通道的增益以減少信號的干擾現象。然而，由于制程偏移與每個通道的相位和振幅的系統漂移而造成不同通道之間的不匹配現象會減小該相位陣列式收發器的通道增益，以及造成每個通道之間抑制干擾的能力降低。因此，提供一個較低成本的校正機制來對相位陣列式收發器的相位陣列式通道進行校正，以達到校正該相位陣列式收發器的不同通道之間的不匹配成分的效果已成為此領域所亟需解決的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供具有一嵌入式校正電路的一相位陣列式收發器與其相關校正方法，以解決上述問題。

依據本發明的第一實施例，其提供一種相位陣列式裝置。該相位陣列式裝置包含有一信號處理電路、多個相位陣列通道、一第一傳導路徑、一第二傳導路徑以及一偵測電路。該信號處理電路用來產生一特定信號。該多個相位陣列通道至少包含一第一相位陣列式通道，該第一相位陣列式通道用來依據該特定信號來產生一第一相位陣列式信號。該第一傳導路徑用來將該特定信號傳導至該第一相位陣列式通道。該第二傳導路徑用來將該第一相位陣列式信號傳導至該信號處理電路。該偵測電路用來偵測該第一相位陣列式信號以及一參考信號之間的不匹配成分以產生一偵測信號，該偵測信號用來校正該第一相位陣列式信號。

依據本發明的第二實施例，其提供一相位陣列式裝置。該相位陣列式裝置包含有一信號處理電路、多個相位陣列式通道、多個第一傳導電路、多個第二傳導電路以及一偵測電路。該信號處理電路用來產生一特定信號。該多個相位陣列式通道中的每一個相位陣列式通道具有一傳送電路以及一接收電路。該多個第一傳導電路用來將該特定信號分別傳導至多個相位陣列式通道，其中該多個相位陣列式通道中的至少一個相位陣列式通道產生一相位陣列式信號。該多個第二傳導電路分別耦接于該多個相位陣列式通道，并用來將該相位陣列式信號傳導至該信號處理電路。該偵測電路用來偵測該相位陣列式信號以及一參考信號之間的不匹配成分以產生一偵測信號，該偵測信號用來校正該多個傳送電路以及該多個接收電路中的至少一個電路。

依據本發明的第三實施例，其提供一種用來校正一相位陣列式裝置的方法。該方法包含有：傳送一特定信號至多個相位陣列式通道中的一第一相位陣列式通道以產生一第一相位陣列式信號；透過一第一傳導路徑來接收該第一相位陣列式信號；將該第一相位陣列式信號的一第一相位以及一第一振幅中的至少一個分別與一預定相位以及一預定振幅中的至少一個進行比較以產生一比較結果；以及依據該比較結果來調整該第一相位陣列式通道以使得該第一相位陣列式信號的該第一相位以及該第一振幅中的至少一個大致上分別相同于該預定相位以及該預定振幅中的至少一個。

依據本發明的第四實施例，其提供一種用來校正一相位陣列式裝置的方法。該方法包含有：透過一第一傳導路徑來傳送一特定信號至多個相位陣列式通道的一第一相位陣列式通道以產生一第一相位陣列式信號；透過一第二傳導路徑來接收該第一相位陣列式信號；將該第一相位陣列式信號的一第一相位以及一第一振幅中的至少一個分別與一預定相位以及一預定振幅中的至少一個進行比較以產生一比較結果；以及依據該比較結果來調整該第一相位陣列式通道以使得該第一相位陣列式信號的該第一相位以及該第一振幅中的至少一個大致上分別相同于該預定相位以及該預定振幅中的至少一個。

本發明實施例的相位陣列式收發器與其相關校正方法，通過分別對相位陣列式收發器的單個相位陣列式通道進行校正，以達到了校正該相位陣列式收發器的不同通道之間的不匹配成分的效果。

附圖說明

圖1為本發明相位陣列式裝置的一實施例的示意圖；

圖2為本發明相位陣列式通道的另一實施例的示意圖；

圖3為圖1所示的本發明的相位陣列式裝置中的一部分電路的一實施例的示意圖；

圖4為本發明相位陣列式裝置操作在傳送信號校正模式下的一部分電路的一實施例的示意圖；

圖5為本發明用來校正一相位陣列式裝置的方法的第一實施例的流程圖；

圖6為本發明用來校正一相位陣列式裝置的方法的第二實施例的流程圖；