[發明專利]一種大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置

無效

• 申請號: 201210153732.5
• 申請日: 2012-05-18
• 公開（公告）號: CN102706446A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 龐淼;高學燕;周山;吳娟;胡曉陽;袁學文
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院應用電子學研究所
• 主分類號: G01J1/04
• 分類號: G01J1/04;G01J1/42
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述的取樣衰減裝置包含數個按規律排布的結構相同的取樣衰減器，取樣衰減器外形為柱狀，每個取樣衰減器包括玻璃壓板、乳白玻璃、激光吸收腔體、衰減片、衰減片壓板；其中，

玻璃壓板用于壓緊乳白玻璃，并對非取樣激光進行漫反射；

乳白玻璃用于對入射激光進行漫透射取樣；

激光吸收腔體用于吸收從乳白玻璃透過的激光并安裝乳白玻璃和衰減片，通過改變激光吸收腔體長度調節取樣衰減器的衰減倍數；

衰減片用于對激光進行再次衰減；

衰減片壓板用于壓緊衰減片；

所述取樣衰減器的激光吸收腔體為空心柱體，激光吸收腔體前后分別對應設置有安裝乳白玻璃的前臺階和衰減片的后臺階；

所述取樣衰減器的乳白玻璃形狀為圓柱體，置于激光吸收腔體前臺階上，乳白玻璃的前表面與激光吸收腔體前端面平齊，后表面緊貼激光吸收腔體的前臺階；

所述取樣衰減器的玻璃壓板置于激光吸收腔體前端面上，玻璃壓板中心設有錐形通孔；

所述取樣衰減器的衰減片置于吸收腔后臺階上，前表面緊貼激光吸收腔體的后臺階，后表面與激光吸收腔體的后端面平齊；

所述取樣衰減器的衰減片壓板設置于激光吸收腔體后端面上，中心有圓形通孔。

2.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述取樣衰減器中的玻璃壓板中錐形通孔的錐角為0°～90°。

3.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述取樣衰減器中的乳白玻璃直徑大于玻璃壓板的錐形通孔底部直徑。

4.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述取樣衰減器中的激光吸收腔體、玻璃壓板的錐形通孔、衰減片壓板的圓形通孔三者同軸，激光吸收腔體的直徑、玻璃壓板的錐形通孔底部直徑、衰減片壓板的圓形通孔直徑相匹配。

5.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述取樣衰減器中的衰減片直徑大于衰減片壓板的圓形通孔直徑。

6.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述取樣衰減器中的玻璃壓板材料采用噴砂鋁；激光吸收腔體材料采用發黑鋁；衰減片壓板材料采用鋁。

7.根據權利要求1所述的大角度使用的陣列探測器取樣衰減裝置，其特征在于：所述按規律排布是指取樣衰減器按照方形陣列排布，相鄰取樣衰減器之間的距離相等。