[發(fā)明專利]在基板上分配焊料的方法和安裝半導(dǎo)體芯片的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210152244.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-05-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102800603B | 公開(公告)日: | 2016-11-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 海因里希·貝希托爾德 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | ESEC公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/603 | 分類號(hào): | H01L21/603;H01L21/607 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 黃剛;車文 |
| 地址: | 瑞士*** | 國(guó)省代碼: | 瑞士;CH |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基板上 分配 焊料 方法 安裝 半導(dǎo)體 芯片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明一方面涉及在基板上分配焊料的方法,并且另一方面涉及在分配的焊料上安裝半導(dǎo)體芯片的方法。
背景技術(shù)
這種焊接方法通常但并不唯一地用于將半導(dǎo)體芯片安裝在稱之為引線框架的金屬基板上。與利用粘合劑進(jìn)行安裝相比,功率半導(dǎo)體器件通常主要利用軟焊料與基板相連接,基板通常由銅組成,以便確保半導(dǎo)體芯片的熱損失通過(guò)焊接接頭更有效地散發(fā)。尤其是在功率密度增加的情況下,對(duì)焊接接頭的同質(zhì)性的要求較高,即,要求焊料層在整個(gè)芯片區(qū)域上有限定的厚度、均勻的分布和理想的浸濕以及完全沒有氣泡和焊接接頭的純度。另一方面,焊料必須不能橫向地滲出焊接間隙,并且不能緊接于半導(dǎo)體芯片散布,這就再次要求對(duì)焊料部分的精確定量和定位。
在安裝半導(dǎo)體芯片的領(lǐng)域中,在實(shí)際使用中廣泛應(yīng)用的一種方法是,將焊絲的端部接觸已被加熱至焊料熔化溫度以上的基板,以便熔化一部分焊絲。由于其簡(jiǎn)便且靈活,這種方法一般非常適于大量生產(chǎn)。然而,所獲得的近似圓形的浸濕表面并不理想地適于矩形或方形的半導(dǎo)體芯片。此外,借助從美國(guó)專利US6,056,184獲知的一種落料模(punching?die),可將沉積在基板上的焊料部分制成一種適于矩形半導(dǎo)體芯片的平坦形狀。還獲知的是,用寫頭(writing?head)沿著特定路徑移動(dòng)焊接金屬絲的端部,使得受熱的基板持續(xù)熔化焊料。焊料軌跡從而沉積在基板上。
從US5,878,939獲知一種方法,其中可將液態(tài)焊料注射進(jìn)形成在成型模和基板之間的腔中。
這些已知的方法具有幾個(gè)缺點(diǎn)?;蛘咚练e焊料的形狀為圓形,或者必須為每個(gè)矩形制出特定的落料模。這樣的落料模包括側(cè)壁,所述側(cè)壁將占據(jù)基板的一部分。因此,焊料不能被施加到芯片島的邊緣,所述芯片島容納半導(dǎo)體芯片。另外,基板必須被加熱到焊料的熔化溫度之上,并且所沉積的焊料從施加開始直到沉積到半導(dǎo)體芯片上必須保持在液態(tài)。另外的缺點(diǎn)是,必須定期地清洗與液態(tài)焊料相接觸的部位,為此目的就必須中斷生產(chǎn)。
從美國(guó)專利US4,577,398和美國(guó)專利US4,709,849中獲知一種方法,在該方法中預(yù)制由焊接金屬制成的扁平預(yù)成型坯(所謂的“焊料預(yù)成型坯”),這種坯的尺寸適用于半導(dǎo)體芯片。焊料預(yù)成形坯隨后會(huì)被放置在基板上并且被基板熔化,以便形成具有所需尺寸的焊接層。由于對(duì)焊料預(yù)成型坯的必要預(yù)制以及額外的安裝操作,這種方法相對(duì)昂貴并且不靈活。
從US2009145950獲知通過(guò)焊料分配器的寫頭引導(dǎo)焊絲的方法和裝置,當(dāng)施加焊料時(shí),將焊絲與受熱的基板相接觸,使得焊料在焊絲的端部處熔化,并且寫頭沿著平行于基板的表面的預(yù)定路徑移動(dòng)。焊料分配器以這種方式在基板上寫出焊料軌跡。這種方法中的缺點(diǎn)是,基板僅能被不充分地浸濕,而未預(yù)先清洗。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是開發(fā)一種不再表現(xiàn)出上述缺點(diǎn)的用于對(duì)基板施加焊料的方法。
根據(jù)本發(fā)明的在基板上分配焊料的方法包括如下步驟:
A)將基板加熱至位于焊料的熔化溫度以上的溫度;
B)將至少一個(gè)焊料部分分配在基板的表面上;
C)將引腳降低到焊料部分中,直到引腳接觸基板的表面為止;
D)對(duì)引腳施加預(yù)定力,使得引腳壓靠基板;
E)對(duì)引腳施加超聲,使得在引腳中產(chǎn)生超聲波,超聲波被取向成相對(duì)于基板的表面垂直或成角度;
F)沿著預(yù)定路徑移動(dòng)引腳,所述預(yù)定路徑延伸平行于基板的所述表面,以及
G)提升引腳,直到引腳從焊料部分分離為止。
優(yōu)選地,該方法進(jìn)一步包括將引腳冷卻到如下溫度:該溫度比焊料的熔化溫度低至少10K并且位于焊料的固相線溫度之上。
可替代地,該方法進(jìn)一步包括在步驟C至F期間將引腳保持在如下溫度:該溫度比焊料的熔化溫度低至少10K并且位于焊料的固相線溫度之上。
如果在步驟B中將焊料分配在基板上,則所述沿著預(yù)定路徑移動(dòng)引腳包括至少部分地沿著基板場(chǎng)所(substrate?place)的邊緣移動(dòng)引腳,引腳的接觸表面伸到基板場(chǎng)所之外并且因此僅部分地接觸基板場(chǎng)所。
在單個(gè)焊料部分被分配在基板場(chǎng)所上的情況下,引腳的直徑小于焊料部分的平均直徑。
除上面描述的將焊料部分分配在基板上的步驟之外,在基板上安裝半導(dǎo)體芯片的方法另外包括將半導(dǎo)體芯片放置在焊料部分上。
附圖說(shuō)明
合并到該說(shuō)明書中并且構(gòu)成該說(shuō)明書的一部分的附圖示出了本發(fā)明的一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例,并且與詳細(xì)描述一起用于解釋本發(fā)明的原理和實(shí)施。附圖不按比例。在附圖中:
圖1-4示出根據(jù)本發(fā)明的用于將焊料施加到基板的方法,并且
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于ESEC公司,未經(jīng)ESEC公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210152244.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種動(dòng)力電池組的檢測(cè)維護(hù)和均衡保養(yǎng)設(shè)備
- 下一篇:風(fēng)電機(jī)組無(wú)功功率控制系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





