[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體量子阱光探測器件無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210151113.2 | 申請日: | 2012-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN102709346A | 公開(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 安正華;王恒亮 | 申請(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/101;H01L31/0232 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 量子 探測 器件 | ||
1.?一種半導(dǎo)體量子阱光探測器件(100),其特征在于包括:?
半導(dǎo)體層(102),在該半導(dǎo)體層(102)一側(cè)表面(106)內(nèi)側(cè)有量子阱層(104),量子阱層(104)中具有濃度為1015-1018/cm3的載流子,并至少具有兩個能級;
金屬層(108),該金屬層(108)在半導(dǎo)體表面(106)上,并具有亞波長周期性金屬孔結(jié)構(gòu);??
入射光波(110),該入射光波(110)在垂直于半導(dǎo)體表面(106)和量子阱層(104)平面的方向上,或者在與垂直方向成一傾斜角的方向上,從半導(dǎo)體層(102)一側(cè)入射并最終被量子阱層(104)所吸收,????????????????????????????????????????????????。
2.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述半導(dǎo)體層(102)中的量子阱層(104)是單層量子阱層,或者是多層量子阱結(jié)構(gòu)。
3.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述量子阱層(104)具有摻雜濃度:1015-1018/cm3,使得量子阱中基態(tài)能級具有足夠的載流子數(shù),當載流子吸收光波能量時可發(fā)生子帶躍遷。
4.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述金屬層(108)上的周期性金屬孔結(jié)構(gòu)為圓形孔陣列結(jié)構(gòu),或者為十字孔陣列結(jié)構(gòu)、矩形孔陣列結(jié)構(gòu)、三角形孔陣列結(jié)構(gòu)、圓環(huán)孔陣列結(jié)構(gòu)或工形孔陣列結(jié)構(gòu)。
5.?如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述金屬層(108)上的周期性金屬孔陣列按照正方形、矩形、平行四邊形、正三角或倒三角方式排列。
6.?如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述金屬層(108)上的周期性金屬孔結(jié)構(gòu)為雙端口的,或者為單端口的。
7.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體量子阱光探測器件,其特征在于,所述入射光波(110)包含的光子穿過半導(dǎo)體層(102)入射到金屬層(108)上并在其上表面和/或下表面形成表面等離子體(112);形成的等離子體(112)在量子阱層(104)處具有較大的豎直電場分量(Ez),從而激發(fā)量子阱(104)中的載流子發(fā)生子帶躍遷,使得能量被量子阱層(104)所吸收。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





