[發(fā)明專利]磁圓二向色性光電導(dǎo)譜測量系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210150271.6 | 申請日: | 2012-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN102680408A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃學(xué)驕;王麗國;申超;朱匯 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號: | G01N21/19 | 分類號: | G01N21/19 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二向色性 電導(dǎo) 測量 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及磁學(xué)和半導(dǎo)體自旋電子學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,特別適用于對半導(dǎo)體自旋電子學(xué)材料(比如:稀磁半導(dǎo)體材料)的自旋相關(guān)光學(xué)和電學(xué)性質(zhì)的研究,提供了一種磁圓二向色性光電導(dǎo)譜(PC-MCD)測量系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近年來自旋電子學(xué)逐漸興起,磁光光譜測量和電學(xué)測量作為重要的測量手段,在自旋電子學(xué)研究中發(fā)揮了重要的作用。
MCD全稱為磁圓二向色性,即在磁場下,物質(zhì)對左旋圓偏振光與右旋圓偏振光的吸收率不同的現(xiàn)象,它是研究材料磁學(xué)性質(zhì)的重要手段。光電導(dǎo)譜測量光照引起的樣品電導(dǎo)率的變化,光吸收產(chǎn)生附加的載流子,引起樣品電導(dǎo)率的變化。由于半導(dǎo)體對不同波長的光吸收率存在差異,特別是在半導(dǎo)體帶隙邊緣,吸收率會有明顯的突變,因此通過測量光電導(dǎo)隨波長的變化,可以獲得樣品能帶結(jié)構(gòu)的信息。光電導(dǎo)正比于光電壓,一般鎖相放大器測量光電壓信號。
通常的光電導(dǎo)測量系統(tǒng)中,入射光設(shè)置成穩(wěn)態(tài)的左圓或右圓偏振光,通過分別測量兩種偏振光引起的光電導(dǎo)的差異,來獲得樣品的光譜結(jié)構(gòu)和磁學(xué)信息。然而通常情況下,這種差異非常小,加之測量系統(tǒng)本身存在的噪聲,使得分辨這種差異變得很困難。
如何設(shè)計一套高信噪比,并且可以靈活改變溫度、磁場、波長的光電導(dǎo)譜測量系統(tǒng),是各磁學(xué)、光學(xué)實驗室期待解決的重要技術(shù)問題之一。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明的主要目的在于提供一套配置靈活,有較高分辨率的磁圓二向色性光電導(dǎo)譜(PC-MCD)測量系統(tǒng),在測量過程中可以根據(jù)實驗需要靈活地改變波長、磁場大小以及樣品的溫度。
(二)技術(shù)方案
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了一種磁圓二向色性光電導(dǎo)譜測量系統(tǒng),該系統(tǒng)包括:
一超連續(xù)白光光源(LS),其出射光經(jīng)過單色儀后作為樣品測試光源;
一單色儀(SP),對該超連續(xù)白光光源(LS)的出射光進(jìn)行濾波,僅選擇單一波長的光通過;
一斬波器(CP),對該單色儀(SP)出射光進(jìn)行斬波調(diào)制,并為第一鎖相放大器(LIA1)提供參考信號,從而得到樣品光生電壓的強(qiáng)度;
一格蘭泰勒棱鏡(P),用于將單色儀(SP)出射光變?yōu)榫€偏振光;
一光彈調(diào)制器(MO),用于將格蘭泰勒棱鏡(P)出射的線偏光變?yōu)橹芷谛云裾{(diào)制光;
一消色差透鏡(L),用于聚焦入射光到樣品上;
一中心帶有室溫孔洞的超導(dǎo)磁體杜瓦(MG),提供用于光電導(dǎo)譜測量的磁場;
一電流源(CS),為樣品提供一穩(wěn)定的直流電流;
第一鎖相放大器(LIA1)和第二鎖相放大器(LIA2),用于測量樣品光生電壓信號的對應(yīng)特定頻率的信號幅度;以及
一由計算機(jī)組成的數(shù)據(jù)處理與存儲系統(tǒng)。
上述方案中,所述超連續(xù)白光光源(LS)通過一個波長為1064nm的泵浦光激發(fā)一個非線性光纖,得到功率最大2w,波長范圍覆蓋450nm至1500nm的超連續(xù)白光。與傳統(tǒng)的白光光源(如汞燈)相比,該光源具有更大的功率,更好的準(zhǔn)直性,更寬的光譜覆蓋范圍,更均勻的光強(qiáng)分布等顯著優(yōu)點。
上述方案中,該系統(tǒng)利用格蘭泰勒棱鏡(P)將單色儀出射光變?yōu)榫€偏振光,利用光彈調(diào)制器(MO)將線偏光變?yōu)橹芷谛云裾{(diào)制光,利用光生電壓檢測樣品對不同偏振態(tài)光吸收的差別。
上述方案中,所述光彈調(diào)制器(MO)工作在0.25λ模式,工作頻率為50KHZ。所述光彈調(diào)制器(MO)的快軸與慢軸均與格蘭泰勒棱鏡的通光軸成45°角。
上述方案中,該系統(tǒng)利用電流源(CS)為樣品提供恒定電流,利用第一鎖相放大器(LIA1)和第二鎖相放大器(LIA2)組成信號探測和處理系統(tǒng),將樣品兩端的電壓信號輸入到第一鎖相放大器(LIA1)和第二鎖相放大器(LIA2)中,其中第一鎖相放大器(LIA1)的參考頻率為斬波器頻率,測量樣品光生電壓;第二鎖相放大器(LIA2)的參考頻率為光彈調(diào)制器頻率(50KHZ),測量信號中頻率為50KHZ的成分的幅度,該幅度正比于樣品對左圓和右圓偏振光吸收的差別。
上述方案中,該系統(tǒng)采用兩端電壓測量法,將樣品做成長條狀,兩端做好歐姆接觸電極,通過電極通恒定電流,用鎖相放大器測量兩端電壓。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





