[發(fā)明專利]顯示裝置的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210147804.5 | 申請(qǐng)日: | 2007-08-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102709242A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田中幸一郎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社半導(dǎo)體能源研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 馮雅 |
| 地址: | 日本神*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示裝置 制造 方法 | ||
1.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
在導(dǎo)電層上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在所述導(dǎo)電層上形成絕緣膜;
去除所述掩模,在所述絕緣膜中形成開(kāi)口;以及
形成導(dǎo)電膜,使所述導(dǎo)電膜在所述絕緣膜的開(kāi)口中與所述導(dǎo)電層接觸。
2.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
形成包括柵電極層、柵極絕緣層、半導(dǎo)體層、源電極層及漏電極層的薄膜晶體管;
在所述源電極層或所述漏電極層上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在具有所述源電極層和所述漏電極層的所述薄膜晶體管上形成絕緣膜;
去除所述掩模,在所述絕緣膜中形成開(kāi)口;以及
形成像素電極層,使所述像素電極層在所述絕緣膜的開(kāi)口中與所述源電極層或所述漏電極層接觸。
3.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
形成包括柵電極層、柵極絕緣層、半導(dǎo)體層、源電極層及漏電極層的薄膜晶體管;
在所述源電極層或所述漏電極層上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在具有所述源電極層和所述漏電極層的所述薄膜晶體管上形成絕緣膜;
去除所述掩模,在所述絕緣膜中形成開(kāi)口;
形成第一電極層,使第一電極層在所述絕緣膜的開(kāi)口中與所述源電極層或所述漏電極層接觸;
在所述第一電極層上形成場(chǎng)致發(fā)光層;以及
在所述場(chǎng)致發(fā)光層上形成第二電極層。
4.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
形成包括柵電極層、柵極絕緣層、半導(dǎo)體層、源電極層及漏電極層的薄膜晶體管;
在所述源電極層或所述漏電極層上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在具有所述源電極層和所述漏電極層的所述薄膜晶體管上形成絕緣膜;
去除所述掩模,在所述絕緣膜中形成開(kāi)口;
形成第一電極層,使第一電極層在所述絕緣膜的開(kāi)口中與所述源電極層或所述漏電極層接觸;
在所述第一電極層上形成電泳元件;以及
在所述電泳元件上形成第二電極層。
5.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
形成包括柵電極層、柵極絕緣層、半導(dǎo)體層、源電極層及漏電極層的薄膜晶體管;
在所述源電極層或所述漏電極層上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在具有所述源電極層和所述漏電極層的所述薄膜晶體管上形成絕緣膜;
去除所述掩模,在所述絕緣膜中形成開(kāi)口;
形成第一電極層,使第一電極層在所述絕緣膜的開(kāi)口中與所述源電極層或所述漏電極層接觸;
在所述第一電極層上形成第二電極層;以及
在第一電極層和第二電極層之間配置涂成黑色和白色的球形粒子。
6.如權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的顯示裝置的制造方法,其特征在于,所述絕緣膜通過(guò)蒸鍍法、濺射法或化學(xué)氣相沉積法形成。
7.如權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的顯示裝置的制造方法,其特征在于,所述掩模的多個(gè)凸部中的其中一個(gè)為針狀。
8.如權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的顯示裝置的制造方法,其特征在于,所述掩模通過(guò)蝕刻去除。
9.一種顯示裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
形成包括源區(qū)及漏區(qū)的半導(dǎo)體層;
在所述源區(qū)及所述漏區(qū)上設(shè)置掩模的多個(gè)凸部,所述掩模通過(guò)設(shè)置多個(gè)凸部在帶有多個(gè)開(kāi)口的支承基板上而形成;
在所述源區(qū)及所述漏區(qū)上形成第一絕緣膜;
去除所述掩模形成具有第一開(kāi)口的柵極絕緣層;
在所述柵極絕緣層上形成柵電極層;
在所述第一開(kāi)口中設(shè)置所述掩模的多個(gè)凸部;
在具有所述源區(qū)及所述漏區(qū)的所述半導(dǎo)體層以及所述柵電極層上形成第二絕緣膜;
去除所述掩模,形成具有第二開(kāi)口的絕緣層。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示裝置的制造方法,其特征在于,所述第一絕緣膜和所述第二絕緣膜通過(guò)蒸鍍法、濺射法或化學(xué)氣相沉積法形成。
11.如權(quán)利要求9所述的顯示裝置的制造方法,其特征在于,所述掩模的多個(gè)凸部中的其中至少一個(gè)為針狀。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社半導(dǎo)體能源研究所,未經(jīng)株式會(huì)社半導(dǎo)體能源研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210147804.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





