[發明專利]測量裝置、測量方法、程序和記錄介質

無效

• 申請號: 201210147284.8
• 申請日: 2012-05-07
• 公開（公告）號: CN102778217A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發明（設計）人: 鹿島浩司;坂口龍己;梶甾博
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;A61B5/107
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 王安武

1.一種測量裝置，包括：

帶狀體，其中多個構件通過相互平行的連接軸而連接，并且所述帶狀體能夠調節和檢測構件間角度，所述構件間角度是以所述連接軸為軸而彼此相鄰的所述構件之間的角度；以及

測量部分，其基于所檢測到的各個構件間角度測量外周形狀，所述外周形狀是其上安裝有所述帶狀體的被測物體的外周的至少一部分的形狀。

2.根據權利要求1所述的測量裝置，其中，當使得所述帶狀體的一端與所述帶狀體的一部分接觸時，所述測量部分基于在測量范圍內檢測到的所述構件間角度來測量所述被測物體的所述外周形狀，其中所述測量范圍是從所述帶狀體的所述一端到所述帶狀體的與所述一端接觸的位置的范圍。

3.根據權利要求2所述的測量裝置，其中所述測量部分基于在所述測量范圍內的各個所述構件在所述帶狀體的縱向方向上的長度來測量外周長度，所述外周長度是所述被測物體的外周的至少一部分的長度。

4.根據權利要求1所述的測量裝置，

其中各個所述構件設置有用于設置測量范圍的操作單元，所述測量范圍是測量中使用的所述帶狀體的范圍，并且

其中所述測量部分基于在通過操作所述操作單元而設置的所述測量范圍內檢測到的所述構件間角度來測量所述被測物體的所述外周形狀。

5.根據權利要求4所述的測量裝置，其中所述測量部分基于在所述測量范圍內的各個所述構件在所述帶狀體的縱向方向上的長度來測量外周長度，所述外周長度是所述被測物體的外周的至少一部分的長度。

6.根據權利要求1所述的測量裝置，

其中各個所述構件具有柔性并且設置有用于檢測所述構件的彎曲程度的傳感器，并且

其中所述測量部分還基于所檢測到的各個所述構件的彎曲程度來測量所述被測物體的所述外周形狀。

7.根據權利要求1所述的測量裝置，其中，在至少一部分的所述構件的與所述被測物體接觸的表面上設置有用于檢測安裝所述帶狀體時的所述構件與所述被測物體之間的壓力的傳感器。

8.根據權利要求1所述的測量裝置，其中，在至少一部分的所述構件上設置有用于檢測所述構件在高度方向上的位置的傳感器。

9.根據權利要求1所述的測量裝置，其中所述測量部分除了所述構件間角度以外，還基于各個所述構件在所述帶狀體的縱向方向上的長度來測量所述被測物體的所述外周形狀。

10.根據權利要求1所述的測量裝置，其中所述測量部分生成測量圖像，其中所述測量圖像是指示所述被測物體的所述外周形狀的圖像。

11.根據權利要求10所述的測量裝置，還包括：

顯示控制部分，其控制所述測量圖像的顯示。

12.一種在測量裝置中的測量方法，所述測量裝置包括帶狀體，在所述帶狀體中，多個構件通過相互平行的連接軸而連接，并且所述帶狀體能夠調節構件間角度，所述構件間角度是以所述連接軸為軸而彼此相鄰的所述構件之間的角度，所述測量方法包括以下步驟：

檢測在將所述帶狀體安裝到被測物體的外周的至少一部分上時的各個所述構件間角度；以及

基于所檢測到的各個所述構件間角度測量外周形狀，所述外周形狀是所述被測物體的外周的至少一部分的形狀。

13.一種用于使計算機執行處理的程序，所述處理包括以下步驟：基于當帶狀體被安裝在被測物體的外周的至少一部分上時檢測到的各個構件間角度來測量外周形狀，其中，在所述帶狀體中，多個構件通過相互平行的連接軸而連接，并且所述帶狀體能夠調節構件間角度，所述構件間角度是以所述連接軸為軸而彼此相鄰的所述構件之間的角度，所述外周形狀是所述被測物體的外周的至少一部分的形狀。

14.一種記錄有權利要求13所述的程序的計算機可讀記錄介質。