[發明專利]大工件直徑激光測量系統及測量方法

無效

• 申請號: 201210146571.7
• 申請日: 2012-05-14
• 公開（公告）號: CN103424079A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 朱沙;趙云;陳世超;鄭軍
• 申請（專利權）人: 中國測試技術研究院力學研究所
• 主分類號: G01B11/08
• 分類號: G01B11/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種大工件直徑激光測量系統，包括測量裝置和主機箱；其特征在于，測量裝置包括激光掃描頭(1)、步進電機(2)和測量架(3)；測量架(3)內安裝有精密導軌(4)和精密絲桿(5)；激光掃描頭(1)搭載在精密絲桿(5)上、精密絲桿(5)置于精密導軌(4)上、由步進電機(2)驅動運行；測量架(3)兩端設有可轉動的支撐腳(6)；主機箱中包括微處理器(11)、激光控制器(12)、數據采集模塊(9)、數據處理模塊(10)、走位控制器(13)、激光電源(14)、顯示屏(7)；微處理器(11)向激光控制器(12)發送信號，激光控制器(12)向激光掃描頭(1)發送信號；激光掃描頭(1)依次向數據采集模塊(9)、數據處理模塊(10)、微處理器(11)回傳信號；微處理器(11)通過走位控制器(13)控制步進電機(2)；微處理器(11)向顯示屏(7)發送信號；激光電源(14)向激光控制器(12)供電。

2.根據權利要求1所述的大工件直徑激光測量系統，其特征在于，所述的激光掃描頭(1)為二維激光掃描頭。

3.根據權利要求1所述的大工件直徑激光測量系統，其特征在于，所述的步進電機(2)為精密步進電機。

4.一種大工件直徑激光測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

A.校準：將測量架(3)放置在被測工件(8)上，開啟主機箱電源，調整測量架(3)的支撐腳(6)，使測量架(3)與被測物體垂直，調整測量架(3)的高度，使顯示屏(7)上的基準線為一直線；

B.測量：調整主機箱檔位，開啟步進電機(2)，通過精密絲桿(5)沿精密導軌(4)推動搭載的激光掃描頭(1)掃描被測工件(8)的一段圓弧面；

C.計算：由精密導軌(4)至被測工件(8)圓弧上一系列點的二維坐標值、及步進電機(2)的步進值，構成空間三維坐標，通過微處理器(11)進行擬合計算，得出被測工件(8)的直徑值，由顯示屏(7)顯示。