[發明專利]低發射率納米涂料及其制備方法與應用有效
| 申請號: | 201210144467.4 | 申請日: | 2012-05-10 |
| 公開(公告)號: | CN102757676A | 公開(公告)日: | 2012-10-31 |
| 發明(設計)人: | 馬天;馮新星;沈鳳川;張建春;郝新敏;來侃;張華 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍總后勤部軍需裝備研究所 |
| 主分類號: | C09D7/12 | 分類號: | C09D7/12;C09D7/14;D06M11/83;D06M11/45;D06M11/44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發射 納米 涂料 及其 制備 方法 應用 | ||
技術領域
本發明涉及一種低發射率納米涂料及其制備方法與應用。
背景技術
隨著紅外探測技術和制導技術的發展,在紅外波段(波長8~14μm)工作的熱紅外成像儀器的空間分辨率已達0.1~0.2mrad,溫度分辨率達0.1~0.3℃。紅外隱身技術作為提高作戰單元生存能力、突防能力和作戰效能的重要因素,引起了各國的高度重視,在現代信息戰中的重要性與日俱增。紅外隱身技術大致可以概括為改變紅外輻射波段、降低紅外輻射強度、調節紅外輻射傳輸過程三個方面。在目標表面涂覆紅外隱身涂層可以降低其紅外輻射強度,而低發射率涂料的研究是紅外隱身涂層制備研究的關鍵。其中,8~14μm波段是紅外熱成像的重要波段之一。
一般紅外隱身涂料由涂層劑和添加劑組成。所述的涂層劑是指具有一定紅外透明性能的高分子涂層劑;所述的添加劑包括:填料、潤濕分散劑、消泡劑、交聯劑、溶劑、稀釋劑等;所述的填料包括金屬填料、半導體填料。研究表明,涂層劑對于涂層發射率的影響占60%以上,而大多數普通涂層劑的紅外發射率都比較高,難以滿足紅外隱身的低發射率需要。有研究者合成了紅外透明涂層劑,借以降低涂層發射率,其中以改性三元乙丙橡膠最為典型,但其缺點是粘附強度低,在實際應用中容易脫落。而高分子導電涂層劑則存在不耐高溫和抗老化性差等問題。在眾多填料中,金屬填料是迄今為止報道最多的低發射率填料,其存在的缺點是金屬填料反射率高,不利于在可見光、雷達和激光等多波段兼容隱身,且金屬填料在空氣中易氧化,會使其紅外發射率大幅升高;同時,由金屬填料制成的低發射率涂料涂覆于織物后,手感發硬,粘附牢度不能滿足實際需要。半導體填料和紅外透明涂層劑的組合能有效克服以上缺點,因而成為研究和應用的重點。有效選擇不同種類、粒度和添加量的半導體填料,與紅外透明涂層劑優化組合,是制備低發射率涂層、實現紅外隱身的關鍵。
摻雜半導體填料是綜合性能優良的紅外隱身材料之一。目前研究較多的摻雜半導體材料是ITO(摻錫氧化銦)和ATO(摻銻氧化錫)。由于制備ITO和ATO的原料In、Sn屬于稀有金屬,導致其制作成本增加,不利于ITO與ATO的應用。ZAO(摻鋁氧化鋅)是新型半導體隱身材料,成本相對于ITO與ATO比較低廉,被認為是具有廣闊發展前景的摻雜半導體材料;其缺點是用它制備的涂層發射率較高。氧化鋅共摻雜鎵鋁(Gallium?and?Aluminum?Co-doped?Zinc?Oxide,GAZO)是一種具有低發射率的半導體材料,國內外針對GAZO的研究多集中在GAZO濺射薄膜,而將GAZO粉體作為填料用于紅外隱身材料的研究還未見報道。
發明內容
本發明的目的是提供一種低發射率納米涂料及其制備方法與應用。
本發明提供的納米GAZO粉體,由如下原料制備而得:Ga、Al、Ga2O3、Al2O3和ZnO。
上述納米GAZO粉體中,所述各原料的用量份數分別為:Ga:0.1-2重量份、Al:0.1-2重量份、Ga2O3:0.1-3重量份、Al2O3:0.1-3重量份、ZnO:90-99.6重量份;優選如下用量份數的各原料:Ga:1重量份、Al:1重量份、Ga2O3:1重量份、Al2O3:1重量份、ZnO:96重量份;
所述納米GAZO粉體的粒徑為20-200nm,具體為150-180nm。
本發明提供的制備上述納米GAZO粉體的方法,包括如下步驟:在惰性氣氛保護下,將前述各原料混勻后,于1000-1400℃保溫0.5-3小時后再淬火,得到所述納米GAZO粉體。
在所述淬火步驟之后,還可根據實際需要,將所得產物研磨、過濾。所述惰性氣氛具體可為氮氣氣氛或氬氣氣氛。
本發明提供的納米涂料,包括涂層劑和添加劑;
其中,所述涂層劑選自水性涂層劑和油性涂層劑中的任意一種;
所述納米涂料也可只由上述組分組成。
所述添加劑包括填料、潤濕分散劑、交聯劑、消泡劑和溶劑;
所述填料為納米GAZO粉體;
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