[發明專利]用于探測X射線量子的方法和裝置

無效

• 申請號: 201210141148.8
• 申請日: 2012-05-09
• 公開（公告）號: CN102778688A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發明（設計）人: R.F.舒爾茨;K.尚尼克
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;G21K4/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于探測X射線量子的方法，所述X射線量子在X射線管中產生并且入射到具有由產生測量信號的像素（P）組成的二維矩陣（10）的多像素X射線探測器（4），

其中，在規定的時間間隔內產生測量信號的并且此外其位于由多個像素（P）組成的連續的集中的像素（P）由分析單元（6）分配給事件集（EC），并且其中，引入其測量信號以用于如下的位置的近似，在該位置處所述X射線量子與所述多像素X射線探測器（4）相互影響。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述多像素X射線探測器（4）包括：閃爍器（12）、在其之后由用于產生測量信號的光敏感的像素（P）組成的二維矩陣（10）、以及用于分析由像素（P）產生的測量信號的分析單元（6），其中，每個測量信號表示已經導致產生相應的測量信號的光量的度量。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，為所述時間間隔規定小于1μs的值。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，為了位置的近似在用于確定數學上的重心的分析單元（6）中引入事件集（EC）的測量信號。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，規定最大空間事件集大小，并且其中，在時間間隔內產生測量信號的并且位于大于最大空間事件集大小的事件集（EC）中的像素（P）的測量信號被分析單元（6）評估為錯誤的測量信號并且不再被分析。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其中，規定最小空間事件集大小，并且其中，在時間間隔內產生測量信號的并且位于小于最小空間事件集大小的事件集（EC）中的像素（P）的測量信號被分析單元（6）評估為錯誤的測量信號并且不再被分析。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其中，在像素大小d中僅具有在2d與6d之間以及特別是在3d與5d之間的空間事件集大小的事件集（EC）的測量信號被評估為非錯誤的測量信號并且被分析。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，其中，所述像素（P）具有小于200μm并且優選小于100μm的像素大小d。

9.根據權利要求2和權利要求7或權利要求2和權利要求8所述的方法，其中，所述閃爍器（12）的厚度與像素大小d這樣匹配，使得在基于“點擴展函數”（psf）、也就是點響應的情況下至少80%并且優選至少90%的由X射線量子產生的光量入射到具有優選在最小2d與最大6d之間以及特別是在3d與5d之間的大小的集。

10.根據上述權利要求中任一項和權利要求2所述的方法，其中，所述閃爍器（12）的厚度大于1000μm，特別是大于1500μm。

11.根據權利要求1至10中任一項所述的方法，其中，所述像素（P）通過有源像素傳感器給出。

12.根據權利要求1至11中任一項所述的方法，其中，所述像素（P）具有規則六角的形狀。

13.一種利用多像素X射線探測器（4）探測X射線量子的裝置（2），包括：由產生測量信號的像素（P）組成的二維矩陣（10）以及分析單元（6），其中，所述分析單元（6）被這樣構造，使得由此可以執行根據上述權利要求中任一項所述的方法。