[發(fā)明專利]絕緣測定用探針單元以及絕緣測定裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210140815.0
• 申請日: 2012-05-08
• 公開（公告）號: CN102778594A
• 公開（公告）日: 2012-11-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 大地隆廣;宇田隆;前川貴史
• 申請（專利權(quán)）人: 日本麥可羅尼克斯股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/12
• 代理公司: 上海市華誠律師事務(wù)所 31210
• 代理人: 楊暄

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測定太陽能電池板等的基板的周邊部的絕緣狀態(tài)的絕緣測定用探針單元以及絕緣測定裝置。

背景技術(shù)

太陽能電池板等的基板中，出于安裝支承框的目的等，在其周邊部設(shè)有絕緣區(qū)域。對于太陽能電池板，在基板的上側(cè)面層疊太陽能電池膜，在太陽能電池膜的上側(cè)面介由膠帶層疊背板。然后，去除周邊部的太陽能電池膜等，設(shè)置絕緣區(qū)域。

專利文獻1是這樣的太陽能電池板的實例。該專利文獻1的太陽能電池板按如下方式制造。

首先，在基板的主面整體形成太陽能電池用膜。接著，通過激光劃片機將形成的膜切成長方形形狀。通過重復(fù)這樣的操作，制作成串聯(lián)連接的太陽能電池模塊。

接著，去除主面上周邊部的太陽能電池用膜，露出基板。具體來說，通過采用激光的清邊裝置，去除周邊部的太陽能電池用膜，或者，通過旋轉(zhuǎn)的磨石的研磨、噴砂等的噴砂的研磨，去除周邊部的太陽能電池用膜。然后，配置膠帶和背板，通過真空層壓法等接合。

這種情況下，若基板周邊部的太陽能電池用膜沒有被完全去除還有殘留，則不能充分得到與膠帶的緊貼性和接合力，可能會產(chǎn)生間隙。若產(chǎn)生間隙的話，該間隙中浸入水分，則可能會引起太陽能電池的絕緣性下降或太陽能電池用膜的劣化。進一步地，還有殘膜的話，絕緣耐壓下降，與太陽能電池板取付構(gòu)造體之間可能產(chǎn)生接地故障。

為了消除這些問題，需要確實地去除基板周邊部的太陽能電池用膜。

于是，為了確實地去除殘膜，或者提高上述清邊裝置的激光的輸出，或者上述噴砂研磨中采用產(chǎn)生細粒粉塵的微型噴砂裝置進行清邊，但都各有優(yōu)缺點，難以完全去除殘膜。

為此，需要確認是否沒有太陽能電池用膜的殘膜。為此，在去除太陽能電池用膜之后，進行檢查。具體來說，通過目視、電阻測試儀進行抽樣檢查。

又，作為太陽能電池的制造方法也有專利文獻2所記載那樣的。該太陽能電池的制造方法包含如下步驟而構(gòu)成：串形成工序，將多個在透光性絕緣基板的表面依次層疊第1電極層、光電轉(zhuǎn)換層和第2電極層形成薄膜光電轉(zhuǎn)換元件形成相互電氣串聯(lián)連接的串；膜去除工序，通過激光去除在透光性絕緣基板的表面的外周部形成的薄膜光電轉(zhuǎn)換元件部分、以在整周形成非導(dǎo)電性表面區(qū)域；清凈化工序，去除在膜去除工序中產(chǎn)生的、在非導(dǎo)電性表面區(qū)域附著的導(dǎo)電性附著物。

這種情況與前面一樣形成周邊部，需要確認該周邊部是否沒有太陽能電池用膜的殘膜，這一點與專利文獻1的情況時一樣的。

又，并不限于太陽能電池，對于其它的面板等，對于需要設(shè)置周邊部的面板等都是一樣的。即、需要確認該周邊部是否沒有太陽能電池用膜的殘膜，這一點與專利文獻1的情況時一樣的。

【現(xiàn)有技術(shù)文獻】

【專利文獻】

【專利文獻1】日本特開2003－142717號公報

【專利文獻2】日本特開2009－206279號公報

發(fā)明內(nèi)容

【發(fā)明要解決的技術(shù)問題】

然而，上述各現(xiàn)有技術(shù)中進行抽樣檢查時，不進行全數(shù)檢查，因此難以進行嚴密的檢查。目視的情況也是一樣，難以進行嚴密的檢查。另一方面，全數(shù)檢查的話，花費時間，難以進行迅速地檢查。

于是，抽樣檢查中漏掉的、有殘膜的太陽能電池板中，有該殘膜部分成為漏電電流的發(fā)生源的情況，也有從殘膜的部分層壓密閉發(fā)生剝離、并浸水從而導(dǎo)致面板整體不良的情況。

由此可見，殘膜即使僅有一點，也會成為引起問題的原因，因此要求嚴密的檢查。因此，期望一種在短時間能夠容易且高精度地檢查殘膜的裝置。

本發(fā)明正是鑒于上述的問題而提出的，其目的在于提供一種在短時間能夠容易且高精度地檢查殘膜的絕緣測定用探針單元以及絕緣測定裝置。

【解決問題的技術(shù)手段】

本發(fā)明的絕緣測定用探針單元，其是用于測定基板表面的內(nèi)側(cè)部和周邊部之間的絕緣狀態(tài)的絕緣測定用探針單元，所述絕緣測定用探針單元包括：面探針，其形成為與上述基板表面的周邊部相同的形狀，與周邊部整體面狀地接觸以整個面導(dǎo)通；接點探針，其與上述基板表面的內(nèi)側(cè)部接觸，所述絕緣測定用探針單元測定與上述面探針接觸的上述基板表面的周邊部、和與上述接點探針接觸的上述基板表面的內(nèi)側(cè)部之間的絕緣狀態(tài)。