[發明專利]一種光纖測大電流的測量裝置及測量方法

無效

• 申請號: 201210140420.0
• 申請日: 2012-05-09
• 公開（公告）號: CN102636682A
• 公開（公告）日: 2012-08-15
• 發明（設計）人: 張學典;毛辰飛;侯英龍;魯敦科;常敏
• 申請（專利權）人: 上海理工大學
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/24
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 吳寶根

1.一種光纖測大電流的測量裝置，包括激光光源、環形器、偏振控制器、磁光晶體、光纖反射鏡，其特征在于，所述的激光光源、環形器、偏振測量儀、磁光晶體、光纖反射鏡用保偏光纖依次相連，激光依次通過環形器、偏振控制器、磁光晶體到光纖反射鏡后，再經過光纖反射鏡反射，通過磁光晶體返回偏振控制器，磁光晶體周圍為待測區。

2.根據權利要求1所述光纖測大電流的測量裝置，其特征在于，所述激光光源可選用1550nm或者1310nm的激光光源，產生線偏振光。

3.根據權利要求1所述光纖測大電流的測量裝置，其特征在于，所述環形器可選用三孔環形器，所述的光纖反射鏡選用FC-NPC接口的光纖。

4.一種光纖測大電流的測量方法，包括光纖測大電流的測量裝置，其特征在于，

激光依次通過環形器到偏振控制器上，通過偏振控制器調整其出射光的偏振態，將磁光晶體置于通有大電流的導線附近，線偏振光在電流產生的磁場作用下通過磁光晶體時，其偏振面將發生旋轉，旋轉角?正比于磁場H沿著線偏振光通過材料路徑的線積分，再由全電流定律可得有：V=VNi，其中V?=是個常數，為每單位光程每單位場強的旋轉角，l為通過物質的光程，N為電流所流經的電線的繞環數，i為所求電流值。