[發明專利]接口測試裝置

無效

• 申請號: 201210138165.6
• 申請日: 2012-05-07
• 公開（公告）號: CN103389932A
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發明（設計）人: 曹朝杰
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種接口測試裝置。

背景技術

外部組件互聯標準（Peripheral?Component?Interconnect-Express，PCIE）技術的數據傳輸速率已經由第一代的2.5GB發展到現在的8GB，其傳輸性能大幅提升，因此目前服務器等電子設備的主板大都采用PCIE接口進行數據傳輸。通常，在主板出廠前，廠家會對PCIE接口進行數據傳輸完整性測試。然而，在測試PCIE接口時，往往需要用到專業測試儀，由于該類測試儀大都價格昂貴，給測試帶來一定的局限性。

發明內容

鑒于以上情況，有必要提供一種測試成本較低的接口測試裝置。

一種接口測試裝置，用于測試一電子設備的PCIE接口的數據傳輸完整性，所述接口測試裝置包括主板及切換單元，該PCIE接口設于主板上，該切換單元包括輸入/輸出引腳，該輸入/輸出引腳均通過PCIE接口與主板電性連接，以形成測試回路，該主板用于通過接口向切換單元發送測試數據，并接收由切換單元傳送的反饋數據，該主板還用于比對測試數據與反饋數據進而判斷PCIE接口的數據傳輸完整性。

上述的接口測試裝置通過設置切換單元，使其與主板建立通信并形成測試回路，如此主板在輸出測試數據后可接收反饋數據，并通過比對測試數據與反饋數據進而判斷PCIE接口的數據傳輸完整性。本發明的接口測試裝置無需專業的測試儀即可測試PCIE接口的數據傳輸完整性，其測試成本較低，且便于測試。

附圖說明

圖1為本發明較佳實施方式的接口測試裝置之功能模塊圖。

主要元件符號說明

接口測試裝置100主板10切換單元20E2PROM30控制器40顯示單元50PCIE接口200第一輸入/輸出端子A11/A12…An1/An2第二輸入/輸出端子B11/B12…Bn1/Bn2電容C

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式

請參閱圖1，本發明的較佳實施方式提供一種接口測試裝置100，其用于測試一電子設備（如服務器，圖未示）的PCIE接口200的數據傳輸完整性。該PCIE接口200的類型可為PCIE?X16、PCIE?X8、PCIE?X4、PCIE?X2等，分別用于供不同的PCIE擴展卡插接。

該接口測試裝置100包括主板10、切換單元20、電可擦可編程只讀存儲器(Electrically?Erasable?Programmable?Read-Only?Memory，E2PROM)30，控制器40及顯示單元50。