[發明專利]一種光刻機自動對準的圖像處理方法無效
| 申請號: | 201210137931.7 | 申請日: | 2012-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN102662308A | 公開(公告)日: | 2012-09-12 |
| 發明(設計)人: | 馮金花;李艷麗;楊勇;羅正全;邢薇 | 申請(專利權)人: | 中國科學院光電技術研究所 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;G03F9/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 許玉明;賈玉忠 |
| 地址: | 610209 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光刻 自動 對準 圖像 處理 方法 | ||
1.一種光刻機自動對準的圖像處理方法,其特征在于,圖像處理的步驟包括:
步驟S1:通過2路獨立的CCD,同時獲取掩模和硅片上的左右標記圖像
步驟S2:對采集到的標記圖像進行噪聲平滑預處理,消除圖像信號中的噪聲,且保持原有的圖像邊緣
步驟S3:對去噪聲的圖像求直方圖,對直方圖進行高斯平滑,求出最佳閾值進行二值化,最后采用視頻求和法確定標記邊緣
步驟S4:忽略標記的傾斜角度而直接采用求和投影帶來邊緣的定位誤差,再采用梯度算法進行邊緣判斷;由梯度的性質可知,在灰度陡變區,梯度值大,在灰度相似區域,梯度值小,在灰度級為常數區,梯度值為零,從而判斷二值圖像的邊緣點
步驟S5:根據圖像的邊緣點集,用最小二乘法擬合確定中線方程,求出標記的中心位置,再根據對準原理,求出掩模坐標系中心相對于硅片坐標系中心的位置關系(ΔX,ΔY),以及坐標軸的位置關系Δθ;
步驟S6:如果ΔX,ΔY,Δθ滿足了系統的對準精度要求,則停止工件臺的運動;否則執行步驟S1,直到滿足要求為止。
2.根據權利要求1所述的一種光刻機自動對準的圖像處理方法,其特征在于:掩模和硅片上的標記X,Y方向是對稱的,且所做標記的尺寸經光學放大后應在CCD視場范圍內。
3.根據權利要求1所述的一種光刻機自動對準的圖像處理方法,其特征在于:圖像的預處理采用一種邊緣保持非線性濾波方法,充分利用信號的局部統計特性,保護圖像邊緣,其表示為如下:
g(x,y)=f(x,y)+n(x,y)
式中f(x,y),g(x,y),n(x,y)分別表示未受干擾圖像、有噪聲圖像和零均值白噪聲;f(x,y)的估值為:
式中表示g(x,y)的局部均值,分別表示g(x,y),n(x,y)的局部方差,k(x,y)為引入的一個增益因子。
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