[發(fā)明專利]一種直插式兩腳半導體極性判斷裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210136045.2
• 申請日: 2012-05-04
• 公開（公告）號: CN102680845A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發(fā)明（設計）人: 楊婭;姜敏;劉鑫;張維倫;劉麗梅
• 申請（專利權）人: 深圳市連碩設備技術有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/26
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權事務所 44248
• 代理人: 胡吉科;肖偉

技術領域

本發(fā)明涉及一種半導體極性判斷領域，尤其涉及一種直插式兩腳半導體極性判斷裝置。

背景技術

由于半導體散料的狀態(tài)有正方向、反方向、短路以及開路，在線高速測試時，其狀態(tài)難以判別，因此，傳統(tǒng)插件機只能將各種不同臥式的半導體電子元器件編帶料按編定的順序程序插入PCB（電路板），進而實現(xiàn)彎腳和切腳，而不能自動將散裝的半導體電子元件插入PCB；即現(xiàn)有技術中，必須將散料用編帶機編成52mm、間距5mm以及平行垂直度±0.5mm的編帶料才能使用，從而導致生產(chǎn)效率低，人工成本高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術問題是需要提供一種在線高速測試中，可以準確識別半導體散料的狀態(tài)，實現(xiàn)散料方向準確進入送料軌道，避免方向錯誤、短路以及開路的直插式兩腳半導體極性判斷裝置。

對此，本發(fā)明提供一種直插式兩腳半導體極性判斷裝置，包括：

用于提供電量的電源模塊；

頻率控制模塊，所述頻率控制模塊與電源模塊連接；

測試信號發(fā)生模塊，所述測試信號發(fā)生模塊與頻率控制模塊連接，用于輸出一對極性相反的交替方波測試信號；

測試模塊，所述測試模塊與測試信號發(fā)生模塊連接，通過所述測試信號發(fā)生模塊輸出的交替方波測試信號的電流經(jīng)過測試點，輸出測試方波脈沖信號；

光耦模塊，所述光耦模塊與測試模塊連接，將所述測試模塊輸出的測試方波脈沖信號轉(zhuǎn)換成反向信號；

放大模塊，所述放大模塊與光耦模塊連接，用于放大反向信號；

邏輯處理模塊，所述邏輯處理模塊與放大模塊，將放大后的反向信號邏輯處理成數(shù)字信號；

非門電路模塊，所述非門電路模塊與邏輯處理模塊連接，將數(shù)字信號反向放大輸出驅(qū)動電流；以及

控制模塊，所述控制模塊與非門電路模塊連接，根據(jù)半導體的測試狀態(tài)實現(xiàn)對半導體的控制。

其中，所述電源模塊用于提供電源電量；所述頻率控制模塊采用頻率控制器，用于控制所述測試信號發(fā)生模塊的交替方波測試信號的頻率；所述測試信號發(fā)生模塊包括數(shù)字方波發(fā)生器，用于輸出一對極性相反的交替方波測試信號，所述交替方波測試信號為交替輸出的極性相反的方波測試信號；所述測試點為測試模塊中對半導體進行測試的測試信號接入點；所述光耦模塊優(yōu)選為線性光耦，接收測試模塊輸出的測試方波脈沖信號，但是該測試方波脈沖信號較弱，因此需要經(jīng)過放大模塊進行反向放大，隨后經(jīng)過邏輯處理模塊邏輯輸出數(shù)字信號給非門電路模塊；所述非門電路模塊采用非門電路，優(yōu)選為采用達林頓晶體管整列的非門電路實現(xiàn)電流驅(qū)動輸出，進而輸出電流信號并驅(qū)動控制模塊；所述控制模塊包括工控電腦或PLC，控制模塊根據(jù)半導體的測試狀態(tài)實現(xiàn)對半導體的控制，所述半導體的測試狀態(tài)包括正方向、反方向、短路以及開路。

所述控制模塊根據(jù)半導體的測試狀態(tài)實現(xiàn)對半導體的控制，即將正方向的半導體送入送料軌道；將反方向的半導體擺正方向后送入送料軌道，將反方向的半導體擺正方向可以采用邏輯控制換向裝置；可以采用棄料裝置將短路或開路的半導體輸送至另外的通道進行丟棄或處理，所述棄料裝置用于收集短路或開路半導體的裝置。本發(fā)明在線高速測試中，可以準確識別半導體散料的狀態(tài)，實現(xiàn)散料方向準確進入送料軌道，避免方向錯誤、短路以及開路。

本發(fā)明的工作原理為：半導體具有單向截止和單向?qū)ǖ奶匦裕谄鋬?nèi)部二極管的正向?qū)ê头聪蚪刂梗景l(fā)明所述測試信號發(fā)生模塊輸出一對極性相反的交替方波測試信號，該一對極性相反的交替方波測試信號包括正方向的方波測試信號和負方向的方波測試信號，即相當于通過2個不同的方向?qū)y試模塊的測試點分別輸入方波測試信號，當正方向的方波測試信號導通，反方向的方波測試信號截止時，則說明該被測試的半導體為正方向；當正方向的方波測試信號截止，反方向的方波測試信號導通時，則說明該被測試的半導體為反方向；當正方向的方波測試信號導通，反方向的方波測試信號也導通時，則說明該被測試的半導體為短路；當正方向的方波測試信號截止，反方向的方波測試信號也截止時，則說明該被測試的半導體為正方向。

而這一對極性相反的交替方波測試信號經(jīng)過測試模塊所輸出的信號已經(jīng)可以辨別出半導體的測試狀態(tài)，在經(jīng)過光耦模塊實現(xiàn)電流隔離，降低環(huán)境的干擾進而轉(zhuǎn)換成反向信號；由于光耦模塊輸出的反向信號較弱，無法驅(qū)動后續(xù)的模塊，因為通過放大模塊放大后輸入至邏輯處理模塊實現(xiàn)邏輯輸出，邏輯處理模塊輸出關于半導體測試狀態(tài)的數(shù)字信號經(jīng)過非門電路的放大作用后，以電流驅(qū)動控制模塊實現(xiàn)對半導體的控制。